Occasion KLA / TENCOR SP3 #9251594 à vendre en France

KLA / TENCOR SP3
ID: 9251594
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2011
Wafer surface inspection system, 12" 2011 vintage.
KLA/TENCOR SP3 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui fournit une analyse non destructive et à haute résolution des photomasques et des plaquettes. Le système offre une technologie à double faisceau avec une configuration NA 0,85 champ lumineux/champ sombre à deux lentilles et une gravure optique. Il permet aux utilisateurs d'accéder, de gérer et d'analyser des photomasques et des plaquettes à n'importe quelle étape du processus de conception et de vérifier la bonne fonction avant d'être engagés dans une production de masse. L'unité KLA SP-3 dispose de plusieurs caractéristiques et composants intégrés qui lui permettent de performances rapides et précises. Ses caméras à haute résolution (HS-Cameras) et ses optiques multiples offrent une excellente capacité d'imagerie avec un faible niveau de bruit de pixel. La machine dispose également d'une technologie de focalisation intelligente qui accélère le processus de mise au point et produit des images de meilleure qualité avec des performances de détection améliorées. Un environnement logiciel intégré permet aux utilisateurs de configurer, surveiller et stocker des processus automatisés avec une interface conviviale. L'outil est disponible en trois configurations ; une caméra unique à l'état solide, un atout double caméra et un modèle complet qui comprend à la fois des caméras et un scanner. L'équipement dispose également d'un système d'alignement automatique qui permet à l'utilisateur d'aligner le motif rapidement et avec précision pour s'assurer que le motif exact est inspecté. Il dispose également de capacités automatisées de contrôle des défauts qui peuvent détecter et classer les défauts rapidement et avec précision. TENCOR SP 3 est conçu pour inspecter avec précision et minutie les surfaces des masques et des plaquettes. Ses fonctionnalités innovantes fournissent des processus automatisés pour examiner rapidement et précisément les caractéristiques des appareils. En conséquence, l'unité SP3 de KLA permet une identification précise et complète des défauts dans les microstructures qui sont généralement invisibles à l'inspection manuelle. La machine est capable d'identifier les défauts avec une précision d'un micron ou moins, et peut rapidement identifier les défauts faibles à modérés sur les surfaces de contact et sans contact. Sa sensibilité et sa précision de détection élevées en font un outil idéal pour l'analyse avancée des photomasques et des plaquettes.
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