Occasion KLA / TENCOR Spectra CD 100 #9269260 à vendre en France

KLA / TENCOR Spectra CD 100
ID: 9269260
Taille de la plaquette: 12"
Film thickness measurement system, 12".
KLA/TENCOR Spectra CD 100 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour détecter les défauts et autres irrégularités dans les photomasques et les plaquettes. Il dispose d'une tête optique multi-axes qui lui permet de fournir une imagerie tridimensionnelle automatisée, l'inspection détaillée des défauts et l'analyse des données. Le système est équipé d'une suite optique haut de gamme et d'un algorithme avancé de détection des défauts qui lui permettent de détecter même les plus petits défauts sur un masque ou une plaquette. KLA Spectra CD 100 utilise la technique propriétaire « Electron Beam Inspection » (EBI) pour inspecter les surfaces des masques et des plaquettes pour détecter les défauts. Cette technique consiste à utiliser un faisceau d'électrons à balayage pour créer une image topographique de la surface du masque ou de la plaquette qui peut ensuite être utilisée pour détecter et quantifier des défauts. TENCOR SPECTRACD 100 peut atteindre une résolution allant jusqu'à 0,2 μ m, ce qui le rend capable de détecter même les plus petits défauts. En plus des capacités de détection des défauts de l'unité, Spectra CD 100 fournit également une analyse détaillée des surfaces du masque et de la plaquette. Il offre des capacités d'imagerie tridimensionnelle et de profilage de surface, permettant aux utilisateurs de visualiser et d'analyser les surfaces en profondeur. La machine est également capable d'offrir un débit allant jusqu'à 500 plaquettes/heure et dispose de divers outils qui lui permettent de réduire les coûts et d'améliorer la production. L'outil est conçu pour répondre aux normes requises (JEDEC, SEMI et MIL-STD) de l'industrie des semi-conducteurs. Il offre une gamme complète d'outils logiciels qui permettent aux utilisateurs d'analyser des données allant jusqu'à 1000 wafers par heure. Le logiciel comprend des capacités de déclaration complètes, une analyse des défauts en temps réel, des capteurs d'autosurveillance et plusieurs logins utilisateurs. KLA/TENCOR SPECTRACD 100 est un choix idéal pour l'inspection des masques et plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Il garantit des niveaux élevés de précision, des économies de coûts et un meilleur débit de production, ce qui en fait un excellent choix pour l'inspection des masques et des plaquettes.
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