Occasion KLA / TENCOR STARlight 301 #9049801 à vendre en France

KLA/TENCOR STARlight 301 est un équipement sophistiqué d'inspection des masques et plaquettes spécialement conçu pour répondre aux exigences de précision strictes des fabricants de semi-conducteurs. Ce système comprend une gamme d'outils de détection optique, d'édition en temps réel, d'examen, d'analyse des défauts et de rapports qui aident à assurer le respect des contrôles de processus les plus stricts. KLA STARlight 301 fournit une précision et des performances inégalées pour l'inspection des substrats structurés. Son sous-système optique avancé utilise des composants optiques supérieurs et une unité d'imagerie haute résolution qui capture et affiche numériquement des images de haute qualité des échantillons. Ces images peuvent alors être analysées avec précision pour détecter la présence de défauts, ce qui donne confiance aux fabricants dans l'obtention de rendements optimaux. Les capacités d'édition en temps réel de la machine permettent aux utilisateurs d'inspecter chaque zone du substrat à la volée. Des outils avancés d'analyse des défauts peuvent être utilisés pour identifier et analyser les défauts potentiels qui pourraient être présents, tels que la croissance cristalline ou les problèmes d'adhésion. Les fonctions de rapport facilitent la surveillance et le suivi des résultats en cours de processus, des niveaux de défauts de suivi et des problèmes potentiels. TENCOR STARlight 301 est également capable d'effectuer un balayage en profondeur, processus conçu pour détecter des défauts qui peuvent être enterrés en profondeur dans un matériau ou un substrat. Ceci peut être particulièrement utile dans le contrôle des plaquettes semi-conductrices, où les défauts peuvent être difficiles à détecter en raison de leur taille ou de leur position. STARlight 301 est facilement évolutif, avec la possibilité d'inspecter simultanément des centaines de plaquettes ou plusieurs substrats en une seule fois. Il est incroyablement efficace, fournissant un débit haut de gamme tout en donnant des résultats précis. En outre, l'outil est soutenu par un service client supérieur et une fiabilité sans compromis. En conclusion, KLA/TENCOR STARlight 301 fournit des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures pour l'inspection des substrats et des plaquettes. Il fournit la précision, les performances et les outils d'analyse des défauts nécessaires pour répondre aux exigences strictes des fabricants de semi-conducteurs. Sa conception évolutive et efficace garantit un débit rapide et des résultats fiables, le tout complété par un service client haut de gamme et une assurance qualité incessante.