Occasion KLA / TENCOR STARlight SL3 Series #9101332 à vendre en France

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ID: 9101332
Lot of PCB's: (1) P/N: 710-060329-00 (1) P/N: 710-034287-00 (1) P/N: 710-032926-00 (1) P/N: 710-057895-00 (1) P/N: 710-034282-00 (3) P/N: 710-034292-00 (1) P/N: 710-034302-00 (1) P/N: 710-060031-00 (1) P/N: 710-060914-00 (1) P/N: 700-032926-00 (3) P/N: 710-058894-00 (1) P/N: 710-057306-00 (1) P/N: 710-057306-00 (1) P/N: 710-058063-00 (2) P/N: 710-058894-002 (1) P/N: 710-058895-003 (6) P/N: 710-060914-00.
KLA/TENCOR STARlight SL3 Series est un équipement d'inspection de pointe conçu pour fournir une analyse approfondie des masques et des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système utilise une technologie d'imagerie avancée pour inspecter toutes les couches du produit avec un niveau élevé de précision et de résolution. La série KLA STARlight SL3 se compose de trois modèles : les modèles SL3000, SL3200 et SL3100. Chaque modèle a ses propres caractéristiques uniques conçues pour répondre aux besoins de divers clients. Le SL3000 est équipé d'une unité d'inspection automatisée des plaquettes à haut débit et d'un inspecteur des plaquettes de grande surface pour détecter les défauts des masques et des plaquettes. La série SL3200 dispose d'une machine d'inspection des plaquettes qui est spécialement conçue pour l'inspection des plaquettes de grande surface et offre une résolution et une précision supérieures. Le modèle SL3100 offre une capacité de défocalisation complète des plaquettes et un capteur haute résolution pour l'inspection des masques et des plaquettes. La série TENCOR STARlight SL3 offre une variété de fonctions d'inspection, y compris l'inspection des défauts de surface, l'isolement des défauts, la mesure des CD et des films, la métrologie de superposition, l'évaluation des motifs de lithographie, ainsi que la détection des défauts de die-to-die. Chacune de ces caractéristiques est conçue pour fournir aux clients une vue d'ensemble de la qualité de leurs produits. L'outil comprend également une fonction d'inspection des particules qui détecte et isole les contaminants des particules sur la plaquette. En plus de fournir des capacités d'inspection de produits supérieures, STARlight SL3 Series offre également une foule de fonctionnalités logicielles avancées, y compris un module d'examen des défauts, un réapprovisionneur automatique de défauts, un outil d'analyse des dimensions critiques, un outil de regroupement des défauts et un outil d'analyse des défauts. Ces fonctionnalités logicielles optimisent le flux de travail de l'ensemble du processus d'inspection et garantissent que les clients sont en mesure de repérer rapidement les défauts et d'améliorer leur contrôle de processus. La série KLA/TENCOR STARlight SL3 combine le meilleur des deux mondes : technologie d'imagerie haute performance et outils logiciels sophistiqués. En combinaison, ces deux caractéristiques offrent aux clients une vue d'ensemble de la qualité de leurs produits. L'actif est conçu pour les clients de production et de R&D, leur fournissant les solutions dont ils ont besoin pour améliorer la qualité et réduire les temps de cycle. Grâce à la technologie d'imagerie de pointe et aux logiciels de KLA STARlight SL3 Series, les clients sont en mesure de s'assurer que leurs produits répondent aux normes les plus élevées de qualité et de cohérence.
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