Occasion KLA / TENCOR Surfscan SP1 Classic #9224666 à vendre en France
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Vendu
ID: 9224666
Style Vintage: 1998
Wafer surface analysis system, 12"
Operating system: Windows NT
Laser: Ar 488 30 mW
SECS / HSMS: SECS-1 (Emulex)
BROOKS FIXLOAD 25TM Handler
P/N: 013077-211-20
Single FOUP, 12"
Handling: Back chuck (Pack)
Option: RFID ASYST ADVANTAGE PB 90M (PMQATR9000)
1998 vintage.
KLA/TENCOR Surfscan SP1 Classic est un équipement d'amélioration de rendement très précis conçu pour maximiser le rendement de production des circuits intégrés (IC) grâce à un processus automatisé d'inspection des masques et des plaquettes. La technologie de pointe du système augmente le rendement en IC en identifiant les défauts et les mauvaises performances de l'équipement. KLA Surfscan SP1 Classic propose sept produits, dont des outils d'inspection des masques et des plaquettes, des systèmes de mesure et d'inspection des plaquettes et d'autres outils de production. Tous ces composants collaborent pour rationaliser et améliorer la fabrication d'IC. Son unité d'inspection des masques, par exemple, utilise des algorithmes automatisés de détection des défauts pour identifier rapidement les défauts minuscules atténués par le cycle de vie dans les motifs de masques IC. Il est également livré avec une machine optique avancée pour mesurer la précision de l'alignement pour vérifier les erreurs de désalignement et de recouvrement. Les systèmes d'inspection des plaquettes de TENCOR Surfscan SP1 Classic utilisent des optiques et des algorithmes de pointe pour détecter et caractériser les défauts des semi-conducteurs sur toutes les couches de plaquettes. Le balayage direct étendu des plaquettes permet à l'outil de détecter rapidement les bosses, les particules et les défauts de vaisselle, qui sont des indicateurs importants des problèmes d'amélioration du rendement. L'actif dispose également d'un modèle automatisé d'examen des défauts qui peut signaler, prioriser et examiner les événements de défaut. KLA autres outils de production permettent aux utilisateurs d'optimiser les rendements IC. L'outil WaferCap, par exemple, mesure et compare les paramètres IC critiques sur toutes les puces IC de la plaquette. Pendant ce temps, la plate-forme de logiciel YieldQ offre l'analytique robuste et la fonctionnalité de contrôle macro, en aidant des fabricants d'IC à obtenir le maximum de leurs processus de production. Les capacités diagnostiques sophistiquées de Surfscan SP1 Classic garantissent un meilleur rendement de production, aidant les clients à identifier et à corriger les défauts qui pourraient conduire à des réductions de rendement. En détectant et en résolvant les problèmes invisibles, KLA/TENCOR Surfscan SP1 Classic augmente le débit de production, réduit les coûts de fabrication et augmente la satisfaction des clients.
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