Occasion KLA / TENCOR Surfscan SP2 #9308728 à vendre en France

KLA/TENCOR Surfscan SP2 Mask and Wafer Inspection Equipment est une solution performante et économique pour l'inspection des masques et des plaquettes dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. Doté d'algorithmes d'acquisition et d'inspection d'images de pointe, KLA Surfscan SP2 garantit la précision et la qualité de vos produits. Avec une gamme complète d'outils intégrés avancés, TENCOR SURFSCAN SP 2 prend en charge les mesures die-to-database, l'analyse des rendements, l'examen de la mise en page et l'analyse des défauts. Le système comprend un grand capteur à haute résolution avec deux sources lumineuses, une architecture d'objets distribuée, la reconnaissance automatique des fonctionnalités, des systèmes d'inspection créés par l'utilisateur expert, la classification des défauts et l'impression intelligente des défauts. L'architecture d'objets distribués de KLA SURFSCAN SP 2 permet de configurer facilement des paramètres d'unités complexes, de gérer les communications avec l'équipement associé et d'étendre les capacités des machines pour inclure des composants tiers. La reconnaissance automatique des fonctionnalités est activée par le moteur intégré, qui peut identifier les caractéristiques critiques et ensuite effectuer des inspections pour le placement correct des fonctionnalités, l'orientation, les paramètres starburst et l'analyse structurelle. Des systèmes d'inspection spécialisés créés par les utilisateurs assurent une surveillance rapide, cohérente et fiable des processus. KLA/TENCOR SURFSCAN SP 2 fournit également une hiérarchie complète des défauts avec des bibliothèques statistiques hiérarchiques, reliant les défauts sur des caractéristiques non intrinsèques telles que les résidus déposés ou les particules avec les défauts sources en amont. Les fonctions automatisées de cartographie des plaquettes et de lecture des images de l'outil facilitent l'analyse en ligne ou après le processus et l'isolement des défauts d'intérêt. L'impression intelligente des défauts permet d'obtenir des images de défauts de contraste élevé sur une variété de supports d'impression à jet d'encre et laser. D'autres caractéristiques, telles que la stabilisation des images, la détection automatique des bords, l'empilement des images, le zoom intelligent et la superposition des images, permettent d'accroître les capacités des actifs et de maximiser la précision de l'inspection. Surfscan SP2 fournit également des rapports de gestion de processus dans une grande variété d'environnements, y compris Windows, Linux, UNIX et les systèmes d'exploitation Sun Solaris. Dans l'ensemble, SURFSCAN SP 2 Masque et Wafer Inspection Model est une solution très fiable et rentable pour les applications de recherche sur les films minces. Avec ses outils intégrés avancés, ses systèmes d'inspection experts créés par l'utilisateur, sa précision d'image irréprochable et son analyse en ligne ou post-processus, TENCOR Surfscan SP2 est une solution vraiment puissante pour tout procédé de fabrication de films minces.