Occasion KLA / TENCOR Surfscan SP3 #293650551 à vendre en France

KLA/TENCOR Surfscan SP3 est un équipement automatisé d'inspection des masques et plaquettes. Il offre des capacités de production évolutives, avec des options à la fois peu coûteuses et performantes. KLA Surfscan SP3 est conçu pour simplifier tous les aspects de l'inspection des masques et des plaquettes, de l'examen avancé des défauts à la gestion complète des données. Le système dispose d'une grande variété de caractéristiques, permettant une inspection fiable et cohérente dans les installations de fabrication de semi-conducteurs. TENCOR Surfscan SP3 offre une technologie d'imagerie avancée à travers une variété d'optiques, permettant à l'unité de détecter une large gamme de particules, défauts et autres détails jusqu'à de très petites tailles. La machine comprend également un ensemble de modules optiques reproductibles et personnalisables, qui permettent aux utilisateurs d'adapter l'outil aux exigences de leur application particulière. L'actif utilise des algorithmes automatisés d'analyse d'image pour maximiser l'exactitude et éliminer les biais humains ou les erreurs du processus d'inspection. Cela garantit des résultats cohérents et impartiaux et réduit au minimum la nécessité d'un examen manuel. En plus de l'optique avancée, Surfscan SP3 dispose également de plusieurs modules pour la gestion des données, le contrôle des processus et la gestion des échantillons. Le module d'acquisition de données du modèle permet d'organiser et de récupérer les données de la bibliothèque pour un examen et une analyse automatisés, ainsi que pour un étalonnage et un examen détaillés des caméras. Le module Base de données de coordonnées assure des mesures précises sur l'ensemble d'une plaquette en suivant les informations de mise en page et de chantier. Enfin, le module de gestion des échantillons de KLA/TENCOR Surfscan SP3 facilite le suivi et la gestion des données sur plusieurs utilisateurs et appareils. L'équipement dispose également de plusieurs algorithmes avancés pour assurer la plus grande précision et fiabilité possible dans les résultats d'inspection. Par exemple, l'algorithme Mask Geometry and Edge Detection permet de détecter des variations entre plusieurs images. L'algorithme de vérification de la sous-mise en page est une caractéristique unique qui détecte les problèmes potentiels d'alignement et de positionnement sur la puce. L'algorithme de détection de fonctionnalités LED peut également aider à trouver des défauts critiques qui peuvent être difficiles à détecter par des méthodes d'inspection normales. KLA Surfscan SP3 est un outil indispensable pour le contrôle de qualité dans un cadre de fabrication de semi-conducteurs. Avec son imagerie très précise, sa gestion automatisée des données et ses algorithmes puissants, le système est conçu pour l'environnement rapide de la fabrication de semi-conducteurs. C'est un choix idéal pour toute installation de production de semi-conducteurs qui cherche à améliorer leurs capacités de contrôle et d'inspection de la qualité.