Occasion KLA / TENCOR Surfscan SP3 #9396622 à vendre en France

KLA/TENCOR Surfscan SP3 est un système d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour détecter et mesurer les défauts sur les substrats semi-conducteurs et non-semi-conducteurs. Grâce à une combinaison d'acquisition et d'analyse d'images sophistiquées, KLA Surfscan SP3 peut inspecter jusqu'à quatre échantillons de n'importe quel type avec une seule action, s'assurant que les clients peuvent obtenir des données de défaut rapides et précises. Le cœur de l'appareil est son sous-système optique, qui comprend deux caméras sophistiquées - un CCD couleur ultra haute résolution pour une imagerie planaire précise et un CCD gris haute résolution 5x pour un balayage plus sélectif. L'éclairage intégré fournit un éclairage naturel pour des résultats cohérents, et une gamme d'options automatisées et manuelles de manipulation d'image permettent à l'utilisateur d'ajuster rapidement les paramètres d'image au besoin. TENCOR Surfscan SP3 est également équipé d'un système de fond bas pour les échantillons sensibles à la lumière, tels que les échantillons de microscopie, ainsi que d'un viseur de champ de vision pour la capture d'image automatisée et la localisation de l'échantillon dans le champ de vision. La manipulation automatique de la morphologie des échantillons complète les fonctionnalités de l'appareil en tant qu'outil complet d'imagerie et d'inspection. Côté données, Surfscan SP3 utilise un puissant moteur logiciel pour fournir des options complexes d'analyse d'image. Les données de mesure peuvent être agrégées et triées en plusieurs cadres, ou des algorithmes peuvent être utilisés pour rechercher des caractéristiques spécifiques de particules ou pour identifier des défauts individuels au niveau du nanomètre. En outre, le logiciel peut être utilisé pour archiver des images localement ou à distance pour un examen et une analyse plus poussés. La polyvalence de KLA/TENCOR Surfscan SP3 en fait l'un des outils les plus fiables disponibles - idéal pour détecter, mesurer et analyser les défauts sur une large gamme de supports de masque et de plaquettes. Il offre précision, précision et convivialité, ce qui en fait le choix privilégié pour la détection des défauts dans l'industrie des semi-conducteurs.