Occasion KLA / TENCOR Terascan SLF576 #9276278 à vendre en France

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ID: 9276278
Style Vintage: 2003
Reticle inspection system, 12" Reticle transfer robot Load port (2) Line conditioners UIC UM User console Missing parts: Beam stabilizer Homogenizer Laser head Fork assembly IAF Preamp enclosure (2) Boxster boards UIC1 Power supply 2003 vintage.
KLA/TENCOR Terascan SLF576 est un équipement complet d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour les applications de fabrication de semi-conducteurs. Le système comprend une technologie intégrée de scan-overlay et d'épissage d'image qui offre une inspection 3D haute résolution pour les caractéristiques de balisage complexes et la mise à l'échelle du processus de production. Avec KLA Terascan SLF576, les utilisateurs peuvent capturer des images plein champ à partir de multiples perspectives pour localiser les défauts potentiels sur le masque. La technologie de scan-overlay et d'épissage d'image de l'appareil permet d'inspecter la même zone du masque sous de multiples angles sans provoquer de changement dans la position relative des caractéristiques observées. La machine offre également des capacités d'automatisation complètes afin que les utilisateurs puissent facilement et rapidement compléter l'inspection des surfaces du masque avec relativement peu d'intervention de l'opérateur. TENCOR Terascan SLF576 est équipé d'outils de navigation de caméras standard pour la manipulation manuelle et automatisée des informations d'image, permettant aux utilisateurs de localiser rapidement tout défaut. En termes de matériel, Terascan SLF576 s'articule autour d'un outil d'éclairage incurvé, qui donne des images d'une clarté et d'un détail inégalés. L'actif dispose également d'une caméra CCD haute vitesse et haute résolution qui a une résolution jusqu'à 1.3µm. Pour soutenir le processus d'inspection, le modèle comprend un puissant équipement d'alignement de plaquettes qui utilise une variété d'algorithmes de vision pour faciliter le placement et le positionnement précis du lobe. Le résultat est que les motifs sur le masque sont exactement appariés entre différents champs de vue ou entre différents sites de plaquettes. En termes de logiciel, KLA/TENCOR Terascan SLF576 dispose d'une variété d'outils de détection des défauts et d'analyse d'image qui sont inclus pour soutenir davantage le processus d'inspection. Ces outils embarqués permettent aux utilisateurs d'évaluer différents aspects d'une image, tels que l'intensité des bords, les niveaux de bruit et les largeurs de lignes, afin d'identifier et d'isoler rapidement les éventuels défauts. Afin d'assurer une performance exceptionnelle du système, KLA Terascan SLF576 est conçu avec des composants remplaçables sur le terrain, qui permettent aux utilisateurs de remplacer rapidement et facilement les pièces défectueuses si nécessaire. En outre, l'unité offre une imagerie thermique avancée en temps réel pour identifier les points chauds et mesurer les variables de consommation d'énergie. Globalement, TENCOR Terascan SLF576 est une excellente solution pour les besoins d'inspection des masques et des plaquettes dans la fabrication de semi-conducteurs. Grâce à ses capacités avancées de numérisation et d'épissage d'images, la machine peut capturer et analyser des images 3D haute résolution pour identifier rapidement et avec précision les défauts potentiels. En outre, Terascan SLF576 est livré avec du matériel complet et des outils logiciels intégrés pour soutenir et automatiser le processus d'inspection.
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