Occasion KLA / TENCOR WI-2250 #293607201 à vendre en France

KLA/TENCOR WI-2250 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes qui fournit des performances de détection de défauts de haute qualité pour les fabricants de semi-conducteurs. Il dispose de technologies de pointe telles que sa technologie d'imagerie en attente de brevet, qui offre jusqu'à 50 % d'amélioration de la sensibilité par rapport aux solutions traditionnelles d'imagerie. Il utilise des faisceaux laser pulsés et une caméra CCD haute résolution pour effectuer une inspection critique sur les caractéristiques de défaut les plus complexes, offrant les résultats les plus fiables et précis. Le système est adapté à des applications telles que l'inspection des masques optiques, des motifs photomasques, l'inspection des défauts et la métrologie, l'inspection des puces à puces, la métrologie des superpositions, l'imagerie des plaquettes à plaquettes, etc. Il est conçu pour détecter même de très petits défauts tels que des trous d'épingle, des rayures et des particules de poussière aussi petites que 0,2 micron. L'unité d'inspection offre une qualité d'image supérieure, permettant une couverture fiable des défauts et un débit rapide. KLA WI-2250 dispose également de capacités d'auto-focus et d'auto-calibration, permettant un fonctionnement facile et un démarrage rapide. Aucun opérateur n'est nécessaire pour le fonctionnement de routine, et la machine peut être facilement entraînée et mise à jour pour répondre aux besoins d'inspection des plaquettes. L'outil optique se compose d'un interféromètre breveté, d'un atout d'imagerie télécentrique, d'un zoom optique 5x, d'un module d'éclairage intégré et d'une caméra CCD haute résolution. Le processus d'imagerie est également compatible avec le RCP (contrôle statistique des processus) pour s'assurer que de nouvelles recettes de processus sont réalisées pour chaque nouvelle couche. Le modèle TENCOR WI-2250 est capable de fournir des mesures de haute précision pour l'évaluation de masques, l'identification de circuits et de modèles de matrice, et les applications de métrologie de superposition. Il est conforme aux dernières normes de l'industrie pour l'évaluation 3D et est étayé par une garantie de qualité et de fiabilité. WI-2250 est un choix idéal pour l'inspection des masques et des plaquettes et convient pour les applications dans les procédés de fabrication de dispositifs semi-conducteurs les plus avancés. Il offre une sensibilité supérieure pour détecter les caractéristiques de défaut jusqu'à 0,2 microns, une couverture fiable des défauts et un débit rapide, ce qui en fait le choix idéal pour tous vos besoins d'inspection de défaut.