Occasion KLA / TENCOR WI-2250 #9379062 à vendre en France

KLA/TENCOR WI-2250 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'inspection détaillée des défauts microscopiques. Il utilise des lasers haute puissance avec une optique de précision pour obtenir une vue macro-niveau des composants. KLA WI-2250 se compose à la fois d'un sous-système optique et d'un sous-système de traitement des échantillons, qui travaillent ensemble pour assurer une détection complète et très précise des défauts. Le sous-système optique de TENCOR WI-2250 est capable d'inspecter des plaquettes à de multiples grossissements, permettant une détection précise, profonde et de grande surface des défauts. Le sous-système optique utilise largement des lasers puissants. Le laser est soigneusement focalisé pour projeter un faisceau lumineux de haute intensité sur la largeur de la surface de l'échantillon. Lorsque le faisceau laser frappe une partie de l'échantillon, il déclenche des capteurs de lumière spécialisés qui peuvent détecter toute différence entre un défaut de l'échantillon et la surface de l'échantillon ininterrompue. Ainsi, de petits défauts tels que des micro-fissures, des trous de broche, des particules ou des contaminants peuvent être détectés avec précision. Le sous-système de traitement des échantillons de WI-2250 est responsable du balayage et du déplacement de l'échantillon afin de capturer des images microscopiques très précises des surfaces. Le sous-système de traitement des échantillons comprend un système cible à haute résolution utilisé pour localiser et identifier avec précision les endroits défectueux. Ce sous-système est également capable d'aligner automatiquement l'échantillon sur le motif associé afin que tout décalage ou désalignement entre les deux puisse être rapidement identifié. KLA/TENCOR WI-2250 fournit une précision inégalée dans la détection des défauts. Il est réputé pour sa capacité à détecter même les plus petits défauts, permettant un contrôle de qualité supérieur dans la fabrication de semi-conducteurs. La large gamme de grossissements de l'appareil lui permet de fournir des images détaillées de la surface de la plaquette. De plus, la machine cible de KLA WI-2250 aide à repérer rapidement et avec précision tout défaut dans l'échantillon. Tout cela se combine pour fournir un masque complet et très fiable et outil d'inspection des plaquettes.