Occasion LEICA APECS 3020 #9410740 à vendre en France

LEICA APECS 3020 est un masque haute performance et un équipement d'inspection de plaquettes conçu pour répondre aux exigences rigoureuses de l'industrie des semi-conducteurs. Ce système élimine les erreurs manuelles en fournissant une série de méthodes automatisées pour inspecter les masques et les plaquettes rapidement et avec précision. L'unité est capable d'inspecter des masques lithographiques jusqu'à 6 "de diamètre et 1.0um en taille de fonction et fournit une capacité d'analyse 3D supérieure avec sa technologie d'imagerie avancée. L'APECS 3020 utilise la technologie avancée d'inspection optique automatisée (AOI) pour inspecter rapidement et avec précision les motifs des masques et des plaquettes. L'AOI utilise l'acquisition d'images numériques pour acquérir des données d'imagerie à partir de la surface du masque, puis traite ces données pour générer une image numérique. Cette image est ensuite analysée et comparée à un ensemble prédéfini de critères pour détecter et identifier les défauts ou irrégularités potentiels du masque. La machine est équipée d'un étage de haute précision et d'algorithmes logiciels avancés pour assurer des inspections précises et précises des plaquettes. L'étage haute résolution permet la détection précise de petites caractéristiques sur la surface de la plaquette tandis que les algorithmes logiciels avancés permettent d'assurer des mesures de position précises et précises des caractéristiques sur la surface du masque. LEICA APECS 3020 dispose également de commandes intuitives et d'une interface utilisateur facile à utiliser pour un fonctionnement intuitif et un contrôle précis des processus d'inspection des masques et des plaquettes. Toutes les commandes d'outils sont accessibles via un écran tactile et un clavier ergonomique. L'actif offre également une variété de formats de stockage de données tels que TIFF, JPEG, RAW, GIF, et BMP pour enregistrer les résultats d'analyse. APECS 3020 est équipé d'une variété de fonctionnalités avancées pour assurer les meilleurs résultats possibles dans le plus bref délai possible. Ces caractéristiques comprennent la numérisation rapide, la réparation intégrée des défauts, le contrôle automatique de la focalisation, le traitement avancé des images et l'analyse des données, l'inspection des masques par pixel, la correction automatisée des défauts et les capacités de déclaration automatique. Ces caractéristiques, combinées à sa technologie avancée d'inspection des masques et des plaquettes, offrent une précision, une fiabilité et une vitesse inégalées. En conclusion, LEICA APECS 3020 est un puissant modèle d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour répondre aux exigences strictes de l'industrie des semi-conducteurs. Cet équipement est livré avec une optique avancée, des contrôles intuitifs du système, et une variété de fonctionnalités d'automatisation et d'analyse, permettant une analyse rapide et précise des masques et des plaquettes. APECS 3020 peut contribuer à garantir le plus haut niveau de qualité et de fiabilité pour tous les dispositifs semi-conducteurs.