Occasion LEICA INS 3000 DUV #9265730 à vendre en France
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ID: 9265730
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2000
Macro defect inspection system, 8"
Loading configuration: ASYST SMIF
(2) Cassette stations
Hard disk, 3.5"
Microscope objectives: 2.5x, 5x, 20x, 100x, 150x, 250x
Option:
Bright and dark field illumination
Damaged parts:
Workstation
Diaphragm module
Pre-aligner with tumble and stage unit
Includes:
Clean room manuals
CD-ROM Manuals
Calibration standards
UV Illumination
Confocal
Signal light tower
Operation system: Windows NT 4.0
Power supply: 208 V, 60 Hz
2000 vintage.
LEICA INS 3000 DUV est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de pointe conçu pour des applications avancées de fabrication de plaquettes. Le système utilise une unité d'imagerie haute résolution, une plate-forme d'isolation des vibrations ultra-stable et une suite logicielle de flux de travail avancé pour mesurer avec précision les défauts qui peuvent affecter les performances des circuits intégrés tels que les transistors et les résistances. Grâce à sa technologie de pointe, la machine peut identifier et mesurer les défauts lors de la fabrication des plaquettes, ce qui donne aux ingénieurs une compréhension détaillée de l'intégrité structurelle et des performances du matériau. INS 3000 DUV utilise une plate-forme ultra-stable pour l'isolation des vibrations afin de garantir un environnement idéal pour la détection de défauts très localisés. Grâce à cette plate-forme spéciale, l'outil offre une stabilité d'imagerie exceptionnelle, qui permet des mesures plus précises. De plus, le niveau d'éclairage ultra bas permet un contraste et une sensibilité supérieurs dans les irrégularités, ainsi qu'une résolution de sous-microns. La suite logicielle sophistiquée de flux de travail de l'actif facilite à la fois l'acquisition de données et l'analyse des défauts. Le logiciel offre aux utilisateurs un accès facile à des images haute résolution de motifs et de défauts, combinées à divers algorithmes pour l'évaluation et la classification des défauts. En outre, le logiciel permet aux utilisateurs de stocker de grandes dimensions de données de wafer et d'enregistrer des informations de traçabilité. LEICA INS 3000 DUV est un modèle puissant et fiable d'inspection des masques et des plaquettes pour les applications les plus exigeantes dans l'industrie des semi-conducteurs. Les capacités sophistiquées de surveillance et d'analyse de l'équipement, associées à sa technologie d'imagerie supérieure, contribuent au plus haut niveau de précision dans la détection des défauts. La plate-forme d'isolation des vibrations du système et les logiciels avancés de flux de travail font un outil sûr et fiable qui aide à réduire les coûts, à améliorer les taux de rendement et à garantir la qualité des produits.
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