Occasion LEICA INS 3000 #293619072 à vendre en France

LEICA INS 3000
ID: 293619072
Wafer defect inspection system SMIF.
LEICA INS 3000 est un puissant équipement d'inspection des masques et plaquettes qui fournit un contrôle complet de la qualité et du processus de production. Le système est spécialement conçu pour aider à améliorer le rendement et le débit dans le processus de production, assurant une meilleure qualité des plaquettes. L'unité dispose d'une source de rayons X haute puissance 180kV à panneaux plats qui fournit une image claire et nette de toutes les couches sur le masque ou la plaquette, quelle que soit l'orientation ou la complexité de la couche. Les capacités d'imagerie de la machine réduisent considérablement les temps d'inspection, car plusieurs couches et zones peuvent être inspectées simultanément. L'outil dispose également de capacités de focalisation laser pour l'inspection de n'importe quelle taille ou à travers n'importe quel matériau. En outre, LEICA INS-3000 offre une fonction de détection automatique des défauts utilisant des algorithmes basés sur les mêmes principes utilisés dans le traitement numérique de l'image. Cela garantit une précision maximale tout en maintenant les niveaux les plus élevés de contrôle de la qualité. L'actif d'inspection comprend une grande variété de logiciels de traitement d'image, tels que le traitement d'histogrammes, le seuil automatique et les fonctions de morphologie. Toutes ces fonctions aident à identifier les défauts et les écarts sur le masque ou la plaquette. INS 3000 dispose également d'une interface utilisateur graphique intuitive (interface graphique) qui permet de contrôler et de naviguer facilement le modèle. L'interface graphique permet également de stocker les résultats de l'inspection des masques et des plaquettes pour les comparaisons et les références futures. En outre, l'équipement est en mesure de se connecter à des bases de données externes, ce qui permet de partager et de rassembler facilement les données d'inspection des masques et des plaquettes. Enfin, INS-3000 comprend un système d'alarme intégré qui avertit les opérateurs de tout écart ou défaut potentiel au cours du processus d'inspection. Cela permet de réduire les temps d'arrêt, car les opérateurs sont en mesure d'identifier et de corriger rapidement tout problème. Dans l'ensemble, LEICA INS 3000 masque et wafer inspection unité est un instrument inestimable pour assurer le plus haut niveau de contrôle de la qualité sur toute chaîne de production. Les capacités d'imagerie haute puissance, la détection automatisée des défauts et la machine d'alarme intégrée aident à augmenter le rendement et à réduire les temps d'arrêt, tandis que l'interface graphique intuitive et la connectivité de la base de données externe permettent une collecte et une analyse rapides des données d'inspection.
Il n'y a pas encore de critiques