Occasion LEICA INS 3000 #9285578 à vendre en France

LEICA INS 3000
ID: 9285578
Wafer defect inspection system.
LEICA INS 3000 est un équipement complet d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour assurer une inspection précise de la fidélité des motifs, des défauts, de la gravure et de l'épaisseur des films des appareils électroniques. Utilisant la conception optique brevetée et les technologies d'imagerie de pointe, LEICA INS-3000 permet l'imagerie de résolution de sous-microns et l'analyse de fonctionnalités qui peuvent répondre aux normes et applications les plus strictes de l'industrie. Le système intègre un algorithme très efficace et une unité de balayage optique modulaire qui fournit une imagerie et une inspection de précision. INS 3000 utilise une machine à double masque et wafer, permettant aux utilisateurs de surveiller et de revoir les images sur place en temps réel. L'outil dispose d'une source indépendante d'éclairage à diode laser avec une puissance lumineuse réglable. L'optique GRIN et les objectifs de profondeur de champ étendue (EDF) sensibles à la polarisation optimisent encore la résolution d'imagerie et réduisent l'artefacting des caractéristiques dues aux aberrations dans le chemin optique. INS-3000 dispose d'un imageur numérique à semi-conducteur haute résolution qui capture des images de caractéristiques isolées sur la plaquette avec une plage dynamique de > 4 ordres de grandeur. L'actif comprend également une gamme de techniques spécialisées de traitement du signal pour réduire le débit et le bruit afin d'assurer une détection et une analyse fiables des défauts. De plus, LEICA INS 3000 utilise un modèle de paramètres codés en couleur qui peuvent être manipulés et ajustés afin d'identifier les défauts ou caractéristiques les plus précis pour permettre l'analyse la plus précise. L'équipement d'imagerie de masque et de plaquette est conçu avec une reconnaissance automatisée avancée des motifs, permettant de mesurer et de détecter rapidement même les plus petites imperfections sur une plaquette. Grâce à une interface graphique entièrement personnalisable et à un système dynamique de contrôle des processus, les utilisateurs peuvent configurer rapidement l'unité pour répondre à leurs exigences et spécifications spécifiques en matière de détection. LEICA INS-3000 est idéal pour le prototypage d'appareils électroniques, la fabrication et l'analyse des défaillances dans les technologies semi-conductrices les plus avancées. La machine est capable de détecter et d'analyser de très petites tailles de caractéristiques (< 0,5 μ m), et fournit des résultats fiables avec une grande précision et répétabilité. Avec son débit élevé, son faible bruit et ses fonctionnalités intuitives, l'INS 3000 offre une solution complète et économique pour l'inspection des masques et des plaquettes.
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