Occasion LEICA INS 3000 #9410355 à vendre en France

LEICA INS 3000
ID: 9410355
Wafer defect inspection systems.
LEICA INS 3000 est un équipement complet d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour le processus de fabrication des semi-conducteurs. Avec son débit élevé et son faible coût de possession, ce système est idéal pour les fonderies, les IDM et les fabs de pointe ou autonomes. LEICA INS-3000 est conçu pour une fiabilité et une flexibilité maximales, offrant une véritable capacité d'inspection sans défaut pour une grande variété de besoins d'application. Ses technologies optiques et logicielles de pointe augmentent la rapidité et la précision des inspections, garantissant que tous les défauts sont rapidement identifiés et éliminés. L'unité INS 3000 est composée d'une machine optique sophistiquée pour l'inspection des plaquettes et d'un outil programmable intégré d'inspection des masques. Son composant optique utilise un microscope automatique à balayage de ligne basé sur l'optique Fourier, offrant des niveaux de résolution et de contraste élevés. Un réseau de CCD est intégré à l'actif, ce qui augmente la vitesse et l'efficacité des inspections. Les scanners de précision, les lasers, l'optique de projection télécentrique et l'autofocus laser sont tous intégrés, ce qui permet une meilleure capacité de détection des défauts. Le modèle dispose également d'un équipement programmable d'inspection de masque qui utilise un système d'imagerie haute résolution multi-longueurs d'onde intégré au composant optique. Il est conçu pour détecter les défauts sur les photomasques et les réticules, avec des niveaux de sensibilité et de contraste élevés. L'unité dispose également d'un puissant algorithme SuperMUM qui peut détecter les défauts de surface, tels que les rayures, les empreintes digitales, etc., ainsi que les bords, les bords et les coins, les particules subpixels et les contaminants. En plus de sa machine optique et de son outil d'inspection de masque, INS-3000 dispose également d'une suite de solutions logicielles pour l'analyse de données et le reporting. Il permet aux utilisateurs d'identifier et de classer rapidement les défauts ainsi que de partager les rapports avec les autres membres de l'équipe d'inspection. Un actif avancé de caractérisation des défauts 3D est également intégré au logiciel, permettant aux utilisateurs d'obtenir des informations plus détaillées sur les erreurs individuelles. Le logiciel est convivial et intuitif, permettant une meilleure collaboration, la prise de décision et le contrôle de la qualité. Le modèle LEICA INS 3000 est conçu pour une performance et une rentabilité maximales. Sa conception robuste et ses technologies avancées garantissent une détection fiable, précise et efficace des défauts. Grâce à son logiciel intuitif, les utilisateurs peuvent rapidement identifier et corriger les problèmes avant qu'ils ne deviennent des défauts coûteux. LEICA INS-3000 est un outil idéal pour l'industrie des semi-conducteurs et un excellent choix pour les installations de fabrication à la recherche d'un équipement complet, économique et fiable d'inspection des masques et des plaquettes.
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