Occasion LEICA INS 3000 #9412578 à vendre en France

LEICA INS 3000 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour l'inspection des semi-conducteurs. Il s'agit d'un système haute performance et haute précision capable de fournir des inspections qui répondent à toutes les principales normes de l'industrie des semi-conducteurs. LEICA INS-3000 utilise des détecteurs CMOS et CCD haute résolution ainsi que des lentilles objectives pour scanner systématiquement des plaquettes et des masques pour une gamme de défauts de semi-conducteurs. L'unité offre un large éventail de modes d'inspection, y compris l'extraction par tangage, l'imagerie fractionnée et les inspections sur le terrain. Les inspections par tangage sont utiles pour analyser des motifs étroitement espacés sur les masques, tandis que l'imagerie fractionnée est conçue pour détecter certains types de défauts à la fois denses et dispersés. Les inspections en plein champ permettent d'obtenir le plus haut niveau de résolution et de précision, car elles analysent et comparent chaque pixel sur le masque avec une précision exacte. L'INS 3000 utilise également des techniques avancées de traitement d'images. Il s'agit notamment de l'alignement automatisé, de la classification des défauts et de l'analyse à plusieurs échelles qui permettent à la machine d'identifier systématiquement les défauts. En outre, la technologie innerviewer de l'outil fournit une rétroaction en temps réel pour alerter l'utilisateur chaque fois qu'un défaut est détecté. L'actif est conçu pour être facile à utiliser et fournit des options d'intégration avec une variété de composants logiciels et matériels. L'interface conviviale est simplifiée pour un fonctionnement rapide et efficace, et les fonctions automatisées d'alignement et de mesure simplifient le processus de mise en place des inspections et de vérification des résultats. INS-3000 est un modèle d'inspection de masque et de plaquette idéal pour toute application de production de semi-conducteurs. Sa résolution et sa précision le rendent extrêmement fiable pour détecter et analyser une variété de défauts de semi-conducteurs. L'équipement est très convivial, ce qui facilite la mise en place et le fonctionnement rapide et efficace du système par les opérateurs. Avec sa vaste gamme de modes d'inspection et ses capacités avancées de traitement d'images, LEICA INS 3000 fournit une méthode efficace et fiable pour effectuer des inspections complètes des semi-conducteurs.