Occasion LEICA INS 3300 #293628459 à vendre en France

LEICA INS 3300
ID: 293628459
Wafer inspection system.
LEICA INS 3300 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes innovant de premier plan au monde conçu pour les applications semi-conductrices les plus exigeantes. Il dispose d'une variété de fonctionnalités de pointe, y compris la microscopie optique en champ proche (NFOM), l'imagerie arrière, et les capacités avancées d'imagerie basse lumière qui fournissent des images haute résolution de l'avant et de l'arrière des plaquettes. Le système est équipé d'un module qui lui permet d'être combiné avec différents types de systèmes d'automatisation, permettant une intégration complète dans le processus de production. LEICA INS3300 utilise une unité d'imagerie multi-longueurs d'onde unique pour fournir une visualisation claire des caractéristiques défectueuses à l'avant et à l'arrière des plaquettes de silicium. La machine est capable d'inspecter les tailles de plaquettes jusqu'à 300 millimètres de diamètre et dispose d'une station de charge ergonomique qui peut charger, décharger et faire basculer les plaquettes automatiquement. L'outil offre une variété d'outils d'acquisition d'image et d'analyse d'image qui vous permettent d'effectuer une inspection haute densité des plaquettes rapidement et efficacement. Il peut détecter une grande variété de défauts tels que les rayures, les trous d'épingle, les particules, la contamination de surface, et la variation de la largeur de ligne. Les outils avancés de classification des défauts de l'INS 3300 permettent de déterminer avec précision les types de défauts, ce qui permet de les utiliser pour une analyse de rendement avancée. INS3300 offre également un actif intégré d'examen des défauts qui permet un examen et une gestion des défauts rapides et faciles. Ce modèle permet l'intégration avec diverses autres suites logicielles et offre une interface utilisateur personnalisable qui permet un fonctionnement facile. Dans l'ensemble, LEICA INS 3300 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour les applications semi-conductrices les plus exigeantes. Il offre une vaste gamme d'outils d'acquisition et d'analyse d'images, des capacités avancées de classification des défauts et un système intégré d'examen et de gestion. Avec sa combinaison de fonctionnalités de pointe et de capacités d'automatisation, LEICA INS3300 est une unité d'inspection puissante et fiable qui peut vous aider à garantir des rendements et une qualité de produit élevés.
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