Occasion LEICA INS 3300 #9285724 à vendre en France

LEICA INS 3300 est un équipement ultramoderne d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour fournir des performances d'imagerie précises et de haute résolution lors des essais et de l'inspection de composants électroniques miniaturisés. Il dispose d'une conception optique avancée qui est adaptée aux besoins d'imagerie haute performance de l'inspection des plaquettes et des masques. Une combinaison d'optique haute résolution, d'imagerie multi-exposition et de logiciels optimisés offre des performances d'imagerie supérieures, offrant une précision maximale et un faible coût total de possession. Le système comprend plusieurs détecteurs, tels qu'un dispositif à couplage de charge (CCD), ou un imageur à semi-conducteur à oxyde métallique complémentaire (CMOS), qui offrent des performances d'imagerie à haute résolution. La gamme d'objectifs d'imagerie disponible comprend un objectif 4x avec une plage d'ouverture de f/2,8-5,0, et un objectif 10x avec une plage d'ouverture de f/8 à f/13. Conçu avec une configuration d'épi-fluorescence standard dans l'industrie, l'appareil est équipé d'une chambre d'imagerie à montage en V et d'une plate-forme de contrôle robuste comprenant un module de contrôle maître, une unité de contrôle et un logiciel de contrôle d'imagerie. LEICA INS3300 offre une multitude de capacités d'imagerie et d'inspection. Il s'agit notamment de la mesure des caractéristiques, de la capture d'image, de la reconnaissance des motifs, de l'alignement des plaquettes, de l'analyse spectrale, de la comparaison des motifs, de la détection des défauts et de l'analyse des défauts. En outre, la machine comprend des algorithmes spécifiquement conçus pour l'inspection des dispositifs semi-conducteurs, permettant d'identifier plus précisément les défauts dans les procédés de fabrication des masques, des plaquettes et des emballages. L'outil dispose également de routines de calibrage automatisées et de reconnaissance automatisée des défauts, permettant une plus grande efficacité et précision dans la détection des défauts. L'INS 3300 est également bien adapté aux applications de métrologie des semi-conducteurs, avec des capacités automatisées de mesure des caractéristiques et des algorithmes optimisés pour les mesures de largeur de ligne, les mesures centrées sur les processus et les mesures statistiques. Conçu pour des performances métrologiques supérieures, l'actif est également équipé d'outils d'analyse rapide des données, de visualisation et de reporting. INS3300 offre des performances de haute résolution dans un facteur de forme compact et est une solution idéale pour une variété d'applications d'inspection des semi-conducteurs et de métrologie. Offrant une gamme complète de fonctionnalités conçues pour maximiser les performances, et un logiciel optimisé pour une analyse et un reporting améliorés, le modèle est idéal pour ceux qui nécessitent des performances inégalées dans l'inspection et la métrologie des dispositifs semi-conducteurs.