Occasion LEICA / VISTEC INS 2000 #146201 à vendre en France

LEICA/VISITEC LEICA/VISTEC INS 2000 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes qui combine l'optique avancée et le traitement d'image pour fournir une inspection précise, rapide et automatisée. Ce système a la vitesse, la précision et la fiabilité pour détecter avec précision le moindre défaut structurel à la surface d'un photomasque ou d'une plaquette. L'unité utilise une machine optique avancée à haute résolution et à fort grossissement qui peut détecter des défauts aussi petits que 0,5 µm sur les photomasques et 0,3 µm sur les plaquettes. Ceci est possible grâce à la combinaison d'une source lumineuse LED, de hautes performances optiques, de la détection de fluorescence et de l'éclairage LED. En outre, le mécanisme est équipé d'une unité motorisée de direction de faisceau qui permet le balayage de zones rectangulaires ou circulaires précisément définies pour une meilleure détection des défauts. Cet outil est capable d'inspecter toute la surface d'un masque ou d'une plaquette avec une imagerie numérique haute résolution et haute précision. Il peut détecter à la fois la contamination et les défauts dans les détails d'une image, ainsi que des imperfections, des rayures, et d'autres situations qui autrement seraient très difficiles à détecter. L'actif est également capable de corriger automatiquement le désalignement du masque ou de la plaquette avant l'inspection, en enregistrant les emplacements vrais et corrects à partir de l'acquisition initiale. Ce modèle est également doté d'une capacité d'examen automatisé des défauts (RD) à grande vitesse. Cela permet aux opérateurs d'analyser rapidement les images des défauts détectés et de les comparer aux images historiques dans la base de données de l'équipement. Cela aide les utilisateurs à identifier rapidement et précisément les défauts, ce qui peut faciliter leur correction et leur prévention à l'avenir. En outre, le système est équipé de capacités avancées de traitement et d'analyse des données. Cela inclut les algorithmes d'extraction et de regroupement de fonctionnalités, ainsi que le regroupement automatique et la classification des images. Les capacités de déclaration avancées de l'unité peuvent générer des rapports complets et détaillés qui peuvent être utilisés par les utilisateurs pour évaluer leurs processus. Dans l'ensemble, VISTEC/VISITEC LEICA INS 2000 est une puissante, très efficace masque et wafer inspection machine. Il offre précision, vitesse et fiabilité pour détecter les plus petits défauts sur une surface photomasque ou wafer. Ses capacités avancées d'imagerie numérique et de traitement des données permettent aux utilisateurs d'analyser et de traiter leurs processus rapidement et avec précision, pour améliorer la qualité des produits en boucle.