Occasion LEICA / VISTEC INS 2000 #9309162 à vendre en France

LEICA/VISTEC INS 2000 est un équipement sophistiqué d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour soutenir la production automatisée d'IC, de MEM et d'autres composants microélectroniques. Il peut fournir une inspection des nœuds de processus critiques, des cartes complètes des plaquettes pour les opérations de rendement et de tri des matrices. LEICA INS 2000 utilise un microscope optique pour obtenir jusqu'à 4,500X grossissement de chaque couche de plaquette pour l'inspection détaillée et la caractérisation du motif d'image. Ses caméras CCD de pointe sont capables de capturer des images claires d'une couche donnée, obtenant une résolution aussi fine que 0,1 μ m. Le système est également équipé d'un logiciel spécialement conçu pour l'inspection automatisée, permettant une révision rapide et précise des images. VISTEC INS 2000 dispose d'une unité de gestion entièrement automatisée, qui peut déplacer et positionner les couches de motifs de masque et de plaquettes afin d'exécuter la détection et la correction des erreurs. Il fournit également une variété de paramètres pour l'inspection, y compris le dimensionnement, l'évaluation des opérations, l'enregistrement des modèles et les processus de vérification des extrémités/jonctions. En plus de ses capacités technologiques avancées, l'INS 2000 offre également un flux de production efficace, fournissant aux clients un examen détaillé de leur production de procédé en peu de temps. Il peut fournir une rétroaction rapide et fiable, permettant aux clients d'améliorer encore le processus de production tout en minimisant les pertes. Enfin, LEICA/VISTEC INS 2000 est capable d'interfacer avec divers instruments, de faciliter la communication entre les systèmes et d'élargir sa gamme d'applications. En outre, la machine est soutenue par le service à la clientèle et le support technologique de pointe de l'industrie, permettant une maintenance efficace de l'outil et la résolution en temps opportun de tous les problèmes techniques.