Occasion LEICA / VISTEC INS 3300 2ei #9206797 à vendre en France

ID: 9206797
Wafer inspection system.
LEICA/VISTEC INS 3300 2ei est un équipement d'inspection des masques et plaquettes de pointe, conçu pour répondre aux normes les plus élevées d'assurance qualité dans l'industrie des semi-conducteurs. Il s'agit d'une technologie avancée d'inspection automatique pour l'analyse précise des défauts sur les matériaux semi-conducteurs, des stades de développement et de prototype jusqu'aux stades de production. Le système dispose d'une technologie optique et d'imagerie avancée, capturant des images numériques de surfaces de masque et de plaquettes qui sont scannées et traitées à grande vitesse. Compatible avec différents systèmes, il offre des capacités d'inspection 4D complètes, avec un champ de vision allant jusqu'à 17.6mm. Le logiciel dispose de technologies intégrées de reconnaissance des motifs et de l'intelligence artificielle qui permettent la reconnaissance automatisée des motifs et la détection/classification des défauts. Grâce à la technologie de couture 3D avancée, les utilisateurs peuvent capturer des images de motifs entièrement descendantes et latérales avec une précision de sous-microns. LEICA INS 3300 2ei propose également une large gamme d'outils d'imagerie et d'analyse à haute sensibilité pour garantir une précision et une fiabilité maximales de la détection des défauts. Le temps minimal de détection est assuré par un processus d'inspection à grande vitesse et à faible bruit. L'analyse complète des défauts, y compris la localisation des défauts, l'analyse de la vue latérale et la mesure, est disponible grâce à des algorithmes avancés. L'interface graphique conviviale assure un contrôle complet des paramètres de l'unité et permet la configuration des paramètres de processus pour répondre à différentes exigences. Les paramètres modulaires sont idéaux pour l'optimisation des processus et permettent une adaptation rapide aux changements dans la gamme de produits. La machine peut également être intégrée dans des systèmes de surveillance de ligne pour une traçabilité totale. En résumé, VISTEC INS 3300 2ei est un outil avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu spécialement pour l'industrie des semi-conducteurs. Sa combinaison de puissantes capacités d'imagerie et d'analyse et d'analyse complète des défauts le rend idéal pour des processus de production de haute qualité. Les fonctions auto-programmables facilitent la mise en place et le maintien des performances des actifs, et leur intégration dans les systèmes de surveillance des lignes les rend aptes à la traçabilité.
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