Occasion LEICA / VISTEC INS 3300 #191088 à vendre en France

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ID: 191088
Review station, 12" BROOKS AUTOMATION Fixload V6 Loadport Prealigner (3) Wafer changers Front load port Control panel: Joystick and trackball CCD Camera Lamphouse: 105/106 Z Halogene FFU Signal tower LCD Monitor, 19" Three-way illumination: Bright field Dark field DIC Objective lens: 2.5x / 0.07 PL Fluotar 10x / 0.30 BD HC PL Fluotar 20x / 0.50 BD HC PL Fluotar 50x / 0.85 BD PL APO 100x / 0.90 BD PL APO 150x / 0.90 BD PL APO Eyepieces: HC PLAN 10x / 25 (LEICA) 2004 vintage.
LEICA/VISTEC INS 3300 est conçu pour inspecter rapidement les masques et les plaquettes de lithographe à l'aide d'un outil modulaire d'inspection à haute sensibilité. Le système est bien adapté pour inspecter les produits semi-conducteurs après la fabrication et les cycles de conception tardifs, ce qui permet de s'assurer que les composants et les assemblages individuels répondent aux spécifications en matière d'intégrité et de fiabilité des produits, et pendant les opérations de réparation/retravaillement. L'unité d'inspection LEICA INS 3300 fournit une imagerie haute vitesse et haute résolution à l'aide d'une machine d'imagerie automatisée en plein champ. L'outil est alimenté par une caméra CCD capable de capturer des images 2D et 3D, et utilise un étage de plaquette motorisé qui permet l'alignement de précision du masque et de la plaquette. La technologie automatisée de piquage d'images assure une inspection continue de l'ensemble de la zone, quel que soit le rythme ou le motif, réduisant le nombre de sites d'inspection tout en améliorant la performance de l'image. L'actif VISTEC INS 3300 offre également une variété d'outils logiciels de haute performance pour le post-traitement et l'analyse des images capturées. Le logiciel comprend des algorithmes de classification des défauts pour identifier rapidement les anomalies, des outils d'optimisation des contrastes pour mettre en évidence les caractéristiques des défauts, et des filtres optiques puissants qui permettent aux utilisateurs d'ajuster les niveaux de couleur et de contraste pour améliorer la résolution. Les utilisateurs peuvent également appliquer une variété d'outils d'analyse d'image pour identifier et examiner les défauts cibles sur les masques et les plaquettes. L'interface avancée et conviviale du modèle INS 3300 offre une large gamme de fonctionnalités et d'options pour personnaliser l'expérience d'inspection. L'équipement fournit des outils de capture et d'analyse automatiques qui permettent aux utilisateurs de concevoir des routines d'inspection personnalisées, avec des paramètres qui peuvent être configurés pour optimiser la procédure d'inspection. En outre, le système offre également un outil de rapport puissant pour permettre l'enregistrement et l'examen des données d'inspection. Dans l'ensemble, l'unité d'inspection des masques et des plaquettes LEICA/VISTEC INS 3300 fournit des capacités d'inspection fiables et complètes pour les produits semi-conducteurs et toute autre exigence de production nécessitant précision et rapidité. Avec son imagerie haute résolution, ses outils logiciels avancés, son interface facile à utiliser et ses fonctionnalités personnalisables, la machine est le choix idéal pour tout processus d'inspection ou de qualité.
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