Occasion LEICA / VISTEC INS 3300 #9099590 à vendre en France

LEICA/VISTEC INS 3300 est un équipement d'inspection des masques et plaquettes de pointe conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Le système intègre une combinaison unique de technologie de pointe, de capacités et de performances pour fournir des résultats d'inspection de masque et de plaquettes très fiables. Les technologies d'inspection avancées de l'unité peuvent détecter des défauts de l'ordre de 0,20 micron ou moins, ce qui en fait l'un des systèmes d'inspection de masque et de plaquette les plus précis disponibles. La machine LEICA INS 3300 est capable de tester différents substrats, dont le quartz, le verre, le silicium et la plupart des autres matériaux semi-conducteurs. Son outil optique de haute précision offre une qualité d'image et une résolution exceptionnelles, ce qui le rend adapté à des dimensions extrêmement petites. L'actif est configuré avec un capteur CCD 12 méga-pixels haute résolution et une focalisation automatisée, ce qui contribue à améliorer les performances d'imagerie. Le modèle dispose d'une étape automatisée avec une approche à grande vitesse et des taux de numérisation jusqu'à 100 × 100 μ m par seconde. Il dispose d'un étage de plaquette intégré pour une manipulation et un alignement faciles et fiables des plaquettes. L'équipement est également équipé d'un système d'éclairage de haute puissance qui peut être configuré pour différentes tailles de plaquettes et expositions. L'unité est alimentée par un système d'exploitation basé sur Linux et un puissant processeur Pentium fournissant des performances suffisantes pour le traitement et l'analyse des données. La machine dispose d'une interface utilisateur intuitive et d'un logiciel avancé qui simplifie le fonctionnement et l'analyse des données. L'interface graphique est colorée pour permettre un examen rapide et efficace des résultats. VISTEC INS 3300 comprend des outils d'inspection avancés tels que l'outil Critical Dimension (CD), l'outil Edge Detection (ED), l'outil OPC et la détection de défauts. Il est capable de détecter divers types de défauts tels que des particules, des rayures, des fosses et des couches de métal ou d'oxyde manquantes. L'outil fournit également une large gamme d'options de correction d'erreurs et algorithme sophistiqué qui peut localiser avec précision et signaler les défauts. L'actif est conçu pour être très fiable et durable dans des conditions de travail difficiles tout en offrant une précision, une vitesse et une répétabilité supérieures. La conception écologique du modèle contribue également à réduire la consommation d'énergie. L'INS 3300 est un équipement puissant et fiable d'inspection des masques et des plaquettes qui est idéal pour tout procédé de fabrication de semi-conducteurs.