Occasion LEICA / VISTEC INS 3300 #9192641 à vendre en France

LEICA/VISTEC INS 3300 est un équipement de haute précision et automatisé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour la recherche et la fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de travailler avec des masques de 8 pouces (20,5 cm) à 12 pouces (30,5 cm), offrant une inspection optique et radiologique. L'inspection optique utilise une caméra CCD de qualité scientifique hautement sensible et un système d'objectif interchangeable, détectant automatiquement les défauts tels que les rayures et les défauts spécifiques au site. L'unité LEICA se concentre sur les plus hauts niveaux de précision, en utilisant à la fois la technologie DVAM (Dynamic Video Auto Measurement) et les logiciels informatiques avancés pour assurer la précision de la détection et de la mesure. Pour l'inspection des rayons X, LEICA INS 3300 dispose d'une source de micro-focalisation de pointe et d'une taille de tache variable pour permettre l'imagerie spécifique aux défauts. En outre, la machine est capable de détecter les défauts intercalaires et les défauts d'enfouissement des plaquettes de silicium, ce qui la rend idéale pour les procédés avancés. D'autres caractéristiques qui en font un outil d'inspection haut de gamme comprennent un moniteur LCD HD complet, écran tactile panneau de contrôle, et avancé wafer-handling actif. Le modèle d'inspection haut de gamme dispose également d'un embout de correction automatique d'alignement pour l'alignement de motifs multiples. Les données peuvent être transférées rapidement via USB et interface logicielle, et les données peuvent également être téléchargées sur un ordinateur pour une analyse plus approfondie. Enfin, les interfaces utilisateur personnalisables de VISTEC INS 3300, les programmes d'autodiagnostic et les alertes automatiques en font un équipement convivial qui simplifie le processus d'inspection. Avec ses performances fiables, sa détection complète des défauts et sa précision élevée, l'INS 3300 est un système efficace et économique d'inspection des masques et des plaquettes pour les applications de l'industrie des semi-conducteurs.