Occasion LEICA / VISTEC INS 3300 #9196670 à vendre en France

LEICA/VISTEC INS 3300 Masque et Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection avancé conçu pour détecter les défauts dans les masques de circuits intégrés et les wafers. L'unité est capable d'afficher des défauts sur la chaîne de production en temps réel tout en aidant l'utilisateur final à corriger la cause profonde. Utilisant les derniers modèles et la reconnaissance topologique, cette machine peut détecter une variété de défauts dans une large gamme de géométries structurelles, garantissant une qualité de produit élevée. L'outil LEICA INS 3300 dispose d'une caméra haute résolution de 3 millions de pixels et d'un objectif de 300mm. Cette solution d'imagerie puissante est couplée à un algorithme de traitement d'image sophistiqué, permettant à l'actif de détecter les défauts de la minuscule dans les motifs les plus complexes. Le capteur de caméra et l'algorithme de traitement d'image sont optimisés pour une évaluation ultra-précise des conditions topologiques de surface, donnant à l'utilisateur un niveau de détail inégalé dans l'analyse. Les capacités avancées de reconnaissance des motifs du modèle lui permettent d'identifier rapidement les caractéristiques manquantes ou mal placées, ou les défauts physiques tels que les rayures, les particules, les puits de gravure, et ainsi de suite. L'équipement est capable de scanner à un rythme de 4000 pixels/seconde, délivrant un débit élevé et un temps de retournement rapide. En plus de fournir une détection rapide des défauts, VISTEC INS 3300 Masque et Wafer Inspection System est intuitif et facile à utiliser. L'interface utilisateur de l'unité est conçue pour une navigation facile, donnant à l'utilisateur un contrôle complet sur les paramètres et le processus d'inspection. L'interface utilisateur comprend également des fonctions statistiques puissantes, permettant à l'utilisateur d'effectuer des analyses sophistiquées rapidement et efficacement pour identifier les questions liées à la production ou au traitement. La machine INS 3300 est conçue avec des systèmes intégrés de contrôle de la rétroaction, permettant son réglage automatique en réponse au signal entrant. Cela garantit que le dispositif continue à détecter avec fiabilité et précision les défauts les plus légers sans nécessiter de réglage manuel. Enfin, l'outil comprend un ensemble puissant de fonctionnalités de sécurité et d'outils pour protéger les données sensibles en cours de traitement. Protégée par un contrôle d'accès avancé, un chiffrement des données et une connexion réseau pare-feu, la sécurité des données dans LEICA/VISTEC INS 3300 actif est top-notch. En résumé, LEICA INS 3300 Mask & Wafer Inspection Model est un équipement d'inspection des défauts avancé, mais convivial qui détecte efficacement une grande variété de défauts avec précision, fiabilité et sécurité.