Occasion LEICA / VISTEC INS 3300 #9244341 à vendre en France

LEICA / VISTEC INS 3300
ID: 9244341
Wafer inspection system With single port.
LEICA/VISTEC INS 3300 est un masque puissant et de haute précision et un équipement d'inspection des plaquettes qui est parfait pour ceux qui recherchent une façon plus efficace et plus complète d'analyser leur procédé semi-conducteur et la qualité du produit. Le système permet aux utilisateurs de surveiller, d'inspecter et de comparer rapidement, précisément et efficacement les composants et le processus des dispositifs, des masques, des circuits et des plaquettes. L'unité utilise un microscope confocal chromatique et des standards de balayage, tels que OPC (contrôle de processus de photolithographie optique) et RET (technologies d'amélioration de la résolution), afin de créer des images hautement optimisées qui peuvent être utilisées pour comparer et analyser les résultats. Les images sont très précises et tiennent compte de la non-uniformité de surface, de la présence de particules et de la densité des marqueurs. Cela garantit que les résultats sont fiables et reproductibles, ce qui permet une surveillance et un contrôle efficaces de la qualité. LEICA INS 3300 dispose également d'une large gamme de fonctions d'inspection et de mesure automatisées et guidées. Cela permet aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision les données et les résultats, sans avoir besoin de saisie manuelle ou d'interprétation. En outre, ces résultats sont entièrement précis et reproductibles, grâce au processus de balayage laser sans source lumineuse. En outre, la machine dispose d'une suite logicielle intégrée, qui permet le transfert d'images et de données de la machine vers un PC pour d'autres analyses et manipulations. Cela permet aux ingénieurs et aux scientifiques d'analyser et de comparer facilement les résultats, sans avoir à saisir ou interpréter manuellement les données. En conclusion, VISTEC INS 3300 est parfait pour ceux qui recherchent un moyen puissant, précis et fiable d'analyser les données de leur procédé ou produit semi-conducteur. L'outil permet aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision les images et de comparer les résultats afin d'assurer un contrôle de la qualité et une aide à l'amélioration. De plus, ses capacités d'inspection et de mesure automatisées et guidées, associées à sa suite logicielle intégrée, en font un outil idéal pour l'analyse et l'inspection.
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