Occasion LEICA / VISTEC LDS 3000 #293827797 à vendre en France

LEICA/VISTEC LDS 3000 est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de pointe qui offre des capacités d'inspection uniques et fiables. LEICA LDS 3000 combine une technologie de pointe avec des capacités d'analyse inégalées pour fournir la solution ultime pour l'industrie de la microélectronique à semi-conducteurs. VISTEC LDS 3000 offre des performances extraordinaires en termes d'imagerie, de topologie et de détection de particules, ainsi que des systèmes d'automatisation composites pour l'inspection des masques et des plaquettes. Le système utilise des algorithmes sophistiqués et un traitement d'image avancé pour identifier diverses caractéristiques et défauts sur les masques et les substrats. Il offre une vaste gamme de modes de détection, y compris l'inspection de surface, le cisaillement et l'inspection des parois latérales, la mesure des dimensions critiques, le dimensionnement des défauts, la coupe d'épaisseur et la topographie 3D. LDS 3000 est équipé d'une large gamme de fonctionnalités avancées pour améliorer les capacités de détection. Son unité Rapid Results fournit aux utilisateurs une vitesse d'analyse et une précision sans précédent. Vari-Lite Technology utilise des recettes automatisées pour assurer un éclairage cohérent et maximiser la détection des défauts. Tan Spectrum offre une réponse en fréquence bien définie de la source lumineuse LED pour maximiser la sensibilité de détection. De plus, LEICA/VISTEC LDS 3000 comprend la machine de mesure de force (FMS) de haute qualité et des commandes intégrées pour optimiser la précision de l'inspection des défauts. LEICA LDS 3000 comprend également des capacités uniques d'imagerie Scan-In-Fly, qui permet l'inspection des masques et des plaquettes sans avoir à arrêter le processus de numérisation. L'outil peut gérer les motifs de numérisation 2D et 3D pour garantir une couverture optimale du masque et de la plaquette avec une sensibilité d'inspection maximale. Il prend également en charge plusieurs formats pour l'entrée et la sortie de données, tels que BMP, JPEG, GIF et TIFF. VISTEC LDS 3000 est livré avec des fonctions améliorées de révision et d'analyse des défauts, permettant aux utilisateurs de visualiser et d'analyser les images capturées en temps réel. Son puissant actif d'analyse de données (DAS) permet aux utilisateurs de filtrer, analyser et classer les défauts de bord, de surface, de particules et de topologie. Le modèle comprend également des capacités complètes d'analyse de couches et d'analyse des lacunes, ainsi que des outils complets de rapport et de gestion des résultats. Dans l'ensemble, le LDS 3000 offre des performances supérieures en inspection des masques et des plaquettes grâce aux capacités d'imagerie et d'analyse automatisées les plus avancées. Il offre une flexibilité, une précision et une fiabilité maximales pour tous vos besoins en microélectronique semi-conducteur.