Occasion LEICA / VISTEC LDS 300M #9249428 à vendre en France

LEICA / VISTEC LDS 300M
ID: 9249428
Style Vintage: 2005
Automated defect inspection system 2005 vintage.
LEICA/VISTEC LDS 300M est un équipement de haute technologie de masque et d'inspection de plaquettes qui a été conçu pour répondre aux besoins avancés des fabricants de photomasques et de plaquettes. Le système permet une détection rapide, précise et très détaillée des défauts. LEICA LDS 300M combine la technologie avancée de balayage par diode laser (LDS) avec un logiciel d'imagerie puissant pour détecter des défauts aussi petits que 0,6 μ m. VISTEC LDS 300M est conçu pour inspecter facilement les masques et plaquettes de taille 200mm et 300mm, avec un champ de vision maximal de 25 mm x 25 mm et une résolution maximale de 3 μ m. L'étalonnage automatique de l'unité garantit que les photomasques inspectés et de référence sont précisément alignés pour la visualisation détaillée et l'analyse des défauts. La machine d'éclairage unique de LDS 300M comprend le triangle variable et l'impulsion variable Imaging™, qui fournit des images à haut contraste et haute résolution sous des angles variables et un éclairage à impulsion variable. Cela garantit que les défauts, même les petites dérives et les micro-fissures, sont détectés et analysés avec confiance. De plus, LEICA/VISTEC LDS 300M peut effectuer des inspections, des examens et des analyses de grandes surfaces avec une grande vitesse, précision et fiabilité. LEICA LDS 300M dispose également d'outils avancés de classification des défauts, y compris des algorithmes permettant d'identifier automatiquement les anomalies dans les masques et les plaquettes inspectés. Le progiciel avancé de l'outil comprend plusieurs documents de classification qui fournissent des instructions étape par étape sur la façon d'établir et d'analyser les résultats des tests. De plus, les résultats d'inspection de VISTEC LDS 300M peuvent être stockés sur cassette, comme fichiers JPEG, et peuvent être exportés via USB. LDS 300M est un atout puissant et fiable conçu pour détecter et analyser les plus petits défauts de la technologie photomasque et wafer. Les technologies avancées de LDS et d'imagerie du modèle, combinées à son logiciel intuitif et à ses systèmes d'exploitation conviviaux, garantissent une détection et une analyse précises des défauts. En outre, LEICA/VISTEC LDS 300M est la solution idéale pour les fabricants de photomasques et de plaquettes qui recherchent un masque et un équipement d'inspection de plaquettes fiables et performants.
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