Occasion LEICA / VISTEC MIS 200 #9024068 à vendre en France
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ID: 9024068
Inspection system
220 V, 50/60 Hz
PMAX: 400 VA
IMAX: 4 A
Laser class 1.
LEICA/VISTEC MIS 200 est un équipement d'inspection Masque et Wafer utilisé principalement dans l'industrie des semi-conducteurs. Il est conçu pour inspecter une gamme de masques et de plaquettes semi-conducteurs avec une combinaison inégalée de vitesse, de précision, de flexibilité et de commodité d'opérateur. LEICA MIS 200 utilise des technologies d'imagerie et de mesure avancées pour acquérir rapidement des images, les comparer à des normes et prendre rapidement des mesures correctives, permettant un rendement plus élevé sur les plaquettes et les puces. Le système maximise l'assurance du processus et la performance du produit en assurant une inspection simultanée de la surface et de ses contours latéraux arrière. Cet outil puissant mesure soigneusement différentes épaisseurs et valeurs de CD à une résolution de 0,25 micron. VISTEC MIS 200 abrite une unité d'interférence laser intégrée à un capteur de vision avancé, où l'utilisateur peut définir des paramètres pour les fonctions WL et d'imagerie pour une performance optimale. La machine MIS 200 est capable de contrôler quatre points et de séquencer les plaquettes pour assurer une forme et une précision plus cohérentes. Avec jusqu'à 8 sites, l'outil peut simultanément aligner et mesurer quatre zones différentes du substrat séparément. Les quatre éléments optiques sont alignés et calibrés avec précision, ce qui garantit les meilleures performances et répétabilité. En outre, l'actif est capable d'inspection à longue portée jusqu'à 500 mm et un grand champ de vision jusqu'à 180 mm, permettant la flexibilité pour inspecter les différentes tailles de substrats. Pour faciliter l'utilisation, LEICA/VISTEC MIS 200 dispose d'une interface graphique conviviale et d'un logiciel intuitif facile à naviguer. Le modèle est équipé d'un grand écran LCD multi-tactile, rendant le processus de mise en place des paramètres plus efficace. En outre, l'équipement peut être connecté à d'autres appareils et équipements via des connexions USB, VGA et Ethernet. En conclusion, LEICA MIS 200 est un Mask & Wafer Inspection System haute performance qui est une solution idéale pour l'industrie des semi-conducteurs. Grâce à sa technologie d'imagerie et de mesure de pointe, à son interface utilisateur intuitive, à sa précision et à sa flexibilité, cette unité offre aux fabricants de semi-conducteurs des inspections inégalées des masques et des plaquettes.
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