Occasion LEICA / VISTEC MIS 200 #9234197 à vendre en France

LEICA/VISTEC MIS 200 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour des applications de production de semi-conducteurs. C'est un système de haute performance qui permet aux utilisateurs d'inspecter avec précision chaque niveau de leurs masques, plaquettes et autres matériaux associés tout en minimisant le temps et l'effort requis. L'unité est composée d'un certain nombre de composants, qui travaillent ensemble pour assurer des inspections efficaces et précises. Les composants clés de LEICA MIS 200 comprennent un module d'imagerie confocale haute résolution, un module de contraste de polarisation, un module de réflectance totale, un module d'inspection visuelle multiple, un module d'inspection de la propreté des échantillons, une station d'alignement et un logiciel. Le module d'imagerie de la machine est équipé d'une technologie avancée d'imagerie de haute qualité pour permettre une inspection précise des masques et des plaquettes. Ce module analyse les images avec une clarté exceptionnelle et résout les détails fins, qui permettent aux utilisateurs d'identifier et d'évaluer avec précision même les plus petites imperfections sur les masques et plaquettes scannés. Le module de contraste de polarisation permet à l'utilisateur d'examiner la lumière polarisée sur la surface des motifs sans taches sous-exposées ou surexposées. En outre, ce module peut détecter des défauts qui seraient habituellement manqués par les méthodes d'inspection standard. Le module de réflectance totale est conçu pour une cartographie rapide et quantitative de la réflectance sur masques et plaquettes. Ce module mesure la réflectance par rapport à l'épaisseur du film, permettant aux utilisateurs de détecter de petites différences d'épaisseur entre les couches adjacentes. Le module d'inspection visuelle multiple est un outil optique puissant qui offre aux utilisateurs une vue améliorée sur les défauts. Ce module permet aux utilisateurs d'identifier les défauts de surface des masques et plaquettes scannés. En outre, ce module est également capable d'identifier les connexions électriques endommagées entre les masques et les plaquettes balayées. Le module d'inspection de la propreté des échantillons de l'outil permet à l'utilisateur d'inspecter avec précision la propreté de leurs échantillons avant l'inspection. Le module détecte les contaminants, tels que les poussières et les débris organiques, ce qui permet à l'utilisateur d'éliminer les contaminants avant une inspection plus poussée. Le poste d'alignement de l'actif est équipé de technologies laser qui assurent un alignement précis des masques et plaquettes inspectés. Cet alignement fiable garantira la précision et la cohérence de tous les balayages des masques et des plaquettes. Enfin, VISTEC MIS 200 comprend également un logiciel qui automatise l'ensemble du processus d'inspection. Le logiciel comprend des outils de traitement et d'analyse d'images, ainsi qu'une interface utilisateur intuitive qui permet à l'utilisateur de surveiller et de configurer facilement ses paramètres d'inspection. Dans l'ensemble, MIS 200 est un modèle d'inspection de masque et de plaquette très avancé qui permet à l'utilisateur d'inspecter rapidement et précisément ses masques et plaquettes pour détecter les défauts. C'est une solution idéale pour les applications de production de semi-conducteurs.