Occasion LEICA / VISTEC MIS 200 #9262659 à vendre en France

LEICA/VISTEC MIS 200 Masque et Wafer Inspection Equipment est une technologie de pointe qui combine des systèmes d'imagerie optique et des algorithmes d'imagerie 3D avancés pour fournir une solution complète pour inspecter les substrats et masques de circuits intégrés (IC) pendant la fabrication de IC. Le système permet une large gamme d'opérations d'inspection haute résolution, y compris l'inspection optique des véhicules d'essai IC, l'assemblage des masques et la vérification électrique. L'unité modulaire est très polyvalente et peut être entièrement personnalisée pour répondre à toutes les exigences de production. La machine LEICA MIS 200 dispose d'un design efficace avec une faible empreinte et des coûts d'installation faibles. L'outil est équipé d'un processeur informatique puissant et d'une mémoire haute vitesse. L'actif informatique est relié à un processeur de signal numérique (DSP) pour améliorer les performances. Il dispose également de disques durs à chaud pour le stockage et la récupération de données faciles. Il existe à la fois un microscope optique et un microscope à large champ pour l'inspection détaillée des véhicules d'essai et des masques. Le modèle est équipé d'une gamme d'algorithmes d'imagerie 3D pour l'inspection des circuits intégrés. Ces algorithmes peuvent analyser la topographie des IC, détecter des défauts tels que des circuits ouverts, des raccourcis et des ponts, et fournir des représentations visuelles précises des IC. Cela permet d'assurer la fiabilité, l'exactitude et la conformité réglementaire. Les algorithmes permettent également de détecter et de classer les défauts rapidement et avec précision. VISTEC MIS 200 comprend également une gamme d'outils de mesure et de diagnostic avancés. Ces métriques puissantes analysent et affichent les résultats de différentes mesures, permettant aux techniciens d'identifier tout problème important avec le circuit ou le masque. L'équipement est compatible avec les protocoles et les dispositifs standard de l'industrie, permettant la connexion à des équipements de test automatisés, des systèmes optiques et d'autres matériels. MIS 200 Masque et Wafer Inspection System est une solution idéale pour toute application de fabrication IC. Ses algorithmes d'imagerie avancés aident à maintenir un niveau élevé de précision et de fiabilité pour tous les IC, et sa configuration personnalisée et ses outils puissants permettent aux techniciens de diagnostiquer rapidement et facilement tout défaut potentiel.