Occasion LTX-CREDENCE / OPTONICS Emiscope II #293655589 à vendre en France

LTX-CREDENCE/OPTONICS Emiscope II est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de pointe dédié à la recherche et à l'évaluation visuelle réussie des circuits intégrés (IC) pendant le processus de fabrication des semi-conducteurs. Il s'agit d'une plate-forme d'automatisation avancée combinant un champ de vision de 50 mm 10x système de macro-inspection avec un microscope à plaquettes couplé optiquement qui est spécifiquement conçu pour évaluer avec précision les ICs lors de la sonde des plaquettes, de l'imagerie die-to-die et de la mesure de la surface des plaquettes. Au cœur de l'unité se trouve un zoom à haut grossissement avec une plage de un à dix grossissements avec facilité de fonctionnement à tout grossissement, et un champ de vision variable. Grâce à la conception optique unique de l'Emiscope, l'utilisateur peut facilement ajuster le zoom et le champ de vision de l'objectif à leur taille désirée. La machine intègre également une interface avant intuitive et un logiciel avancé qui permet à l'utilisateur de définir facilement les paramètres et de contrôler le réglage de l'outil au besoin. L'actif est en outre équipé d'un composant d'appareil photo numérique haute résolution qui est optimisé pour l'application spécifique. En outre, la technologie de caméra numérique utilise un processeur de signal numérique (DSP) pour des capacités maximales d'extraction de données. Cela garantit la collecte de données précises pour les meilleurs résultats. Afin d'améliorer la précision et la fiabilité du processus d'inspection des masques et plaquettes, OPTONICS Emiscope II offre une variété de fonctionnalités avancées pour améliorer le rendement. Ces caractéristiques comprennent une inspection unique du modèle de défaut ou un outil d'examen des défauts, qui permet à l'utilisateur de détecter avec précision et efficacité l'emplacement exact du défaut potentiel sur la plaquette. Le logiciel de révision des plaquettes fournit également des informations statistiques sur les défauts et le nombre de défauts repérés. De plus, le modèle permet également à l'utilisateur de définir des types et des seuils de défauts afin de tirer le meilleur parti de l'équipement. LTX-CREDENCE Emiscope II est également équipé d'une gamme de composants optiques et d'outils logiciels qui permettent à l'utilisateur de détecter et de catégoriser automatiquement les défauts au cours du processus d'inspection, ce qui permet un processus plus fluide et des résultats plus rapides. De plus, le flux de travail automatisé d'Emiscope II est conçu pour minimiser les erreurs humaines en diminuant le risque de fonctionnement et d'erreurs incorrectes. Dans l'ensemble, LTX-CREDENCE/OPTONICS Emiscope II est un système d'inspection de masque et de plaquettes hautement fiable et efficace qui offre des performances et une précision inégalées avec une excellente interface utilisateur et des composants logiciels qui permettent un processus d'inspection efficace. L'unité est idéale pour toute installation de fabrication d'IC qui cherche à promouvoir le produit de la plus haute qualité tout en minimisant les coûts et les risques.