Occasion MATSUSHITA M515-III #9281249 à vendre en France

MATSUSHITA M515-III Mask and Wafer Inspection Equipment est un système d'imagerie haute performance conçu pour la fabrication de semi-conducteurs. Il est capable de visualiser les défauts et les caractéristiques des dispositifs, plaquettes et masques. L'unité combine une machine d'imagerie haute vitesse basée sur la caméra avec des composants logiciels et matériels puissants pour fournir des images haute résolution des plaquettes et des masques. L'outil utilise une caméra CCD et du matériel de traitement d'image, avec un ordinateur pour stocker des données d'image et fournir des interfaces graphiques utilisateur (UI) pour le contrôle et la visualisation de l'utilisateur. La caméra peut être positionnée dans trois directions : X, Y et Z. Cela permet l'imagerie d'une grande variété de dimensions et de tailles. De plus, l'actif offre des grossissements réglables, permettant des performances optimisées pour une grande variété de tailles de plaquettes et de masques. Le modèle offre également la flexibilité de changer le nombre de pixels par champ sans avoir besoin de décalage d'image. Le logiciel de l'équipement permet l'examen visuel simultané des plaquettes et des masques à haute résolution et à grande vitesse. Il offre une puissante capacité d'analyse d'image et de révision des défauts, permettant de gérer et d'optimiser une gamme de paramètres tels que la taille, la forme, le type et la position des défauts. Le système offre à l'utilisateur un grand contrôle sur le processus d'assurance de la qualité, fournissant divers outils pour la manipulation et l'analyse des données. M515-III Masque et Wafer Inspection Unit profite de sa flexibilité pour fournir une variété d'autres fonctionnalités. Il offre des tables de recherche pour la détection rapide des défauts. Cette fonctionnalité permet à l'utilisateur d'identifier et de suivre rapidement les données d'image défectueuses. La machine offre également la possibilité de concevoir des algorithmes personnalisés de reconnaissance de fonctionnalités, permettant la détection de certaines caractéristiques ou caractéristiques uniques. Enfin, l'outil offre d'excellentes performances lors de l'inspection de masques et de plaquettes aux formes complexes et aux surfaces inclinées ou courbes, y compris les plaquettes TFT-LCD et MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems). MATSUSHITA M515-III Masque et Wafer Inspection Asset est une technologie innovante conçue pour améliorer et optimiser le processus d'assurance qualité des wafers et masques. Avec sa technologie d'imagerie haute vitesse, ses logiciels et matériels de pointe, et sa flexibilité d'exploitation, le modèle offre des performances exceptionnelles pour les tâches d'assurance qualité.