Occasion MATSUSHITA M777 #9329275 à vendre en France

MATSUSHITA M777 Mask & Wafer Inspection Equipment est un instrument de métrologie opto-mécanique de haute précision conçu spécifiquement pour l'inspection des plaquettes et des photomasques à semi-conducteurs. Il utilise un objectif télécentrique d'un demi-pouce pour visualiser les échantillons cibles, avec une résolution de 1 micron ou mieux. Les images de la surface de l'échantillon sont prises à plusieurs grossissements hors axe, ce qui permet une inspection et une analyse approfondies de la surface. M777 utilise une variété de techniques d'imagerie optique pour effectuer son processus d'inspection, telles que l'interférométrie laser, l'imagerie achromatique et la mesure de phase. Cela permet une analyse haute résolution de la surface de la plaquette, permettant des mesures précises de la taille des caractéristiques, des caractéristiques de surface et de la contamination des particules. Le système est équipé d'une unité autonome d'auto-étalonnage qui permettra une répétabilité des résultats mesurés supérieure à 10 nanomètres. La machine dispose d'une fonction de cartographie des plaquettes, permettant le suivi des plaquettes au cours de leur progression d'inspection. De plus, une base de données sur les défauts peut être programmée dans MATSUSHITA M777 pour suivre les zones de défauts en vue d'un examen et d'une caractérisation ultérieurs. L'outil est capable de capturer des détails de surface extrêmement fins, tels que la topologie des puces et les placements de fonctionnalités, ainsi que des caractéristiques qui sont trop petites pour être résolues au microscope. Ceci permet d'analyser des structures de plaquettes de haute précision avec une résolution inférieure à un nanomètre. M777 actif est également conçu avec des caractéristiques de sécurité pour protéger les utilisateurs et l'instrument lui-même. Il dispose d'un environnement interne protégé contre l'EDD et d'une conception de porte réfléchissante/non réfléchissante intégrée pour empêcher la lumière de quitter la zone d'inspection. Il dispose également d'un circuit de refroidissement dédié, offrant une protection contre la surchauffe du modèle pendant le fonctionnement. L'équipement MATSUSHITA M777 est un instrument de métrologie vraiment exceptionnel pour l'inspection des plaquettes et masques semi-conducteurs. Ses techniques d'imagerie optique permettent d'obtenir la plus grande précision dans l'analyse de surface, et ses caractéristiques de sécurité intégrées assurent une meilleure protection en fonctionnement. Avec sa facilité d'utilisation et ses performances supérieures, M777 Mask & Wafer Inspection System est un excellent choix pour la métrologie semi-conductrice avancée.