Occasion MATSUSHITA PSX307-M #9394953 à vendre en France

MATSUSHITA PSX307-M Masque et Wafer Inspection Equipment est un système avancé et performant pour effectuer l'inspection des défauts des masques à semi-conducteurs et des plaquettes de grande taille. L'unité utilise la technologie avancée de déflectométrie optique à double pyramide (DOE) pour mesurer avec précision la forme et la surface de chaque dispositif semi-conducteur, ce qui permet de détecter les défauts critiques et leur emplacement précis. Une caméra de bord haute résolution est intégrée à la machine pour la capture d'image de la plaquette ou du masque inspecté, et des capacités d'imagerie supérieures permettent d'inspecter même les détails les plus fins. L'outil tire également parti de la technologie de détection optique tridimensionnelle avancée (3D & OS) pour la détection et la mesure complète des défauts. Grâce à cet atout avancé, il est possible de détecter de petits défauts sur les plaquettes et les masques, ainsi que de mesurer avec précision la forme de la surface, la hauteur et d'autres caractéristiques physiques. Ces données peuvent être utilisées pour mesurer la taille et la forme d'un appareil afin d'assurer un contrôle de qualité précis. PSX307-M est équipé d'une fonction d'auto-alignement intégrée qui fonctionne à l'unisson avec le modèle 3D & OS pour permettre une inspection précise des défauts. Cette fonction d'auto-alignement permet de détecter des défauts mineurs avec une grande précision, même dans les grandes plaquettes. En outre, l'équipement est équipé d'un outil avancé d'analyse d'image (MATMESH) qui effectue l'élimination des défauts en temps réel pour l'inspection des défauts à haut rendement. MATSUSHITA PSX307-M propose également une variété de menus et de fonctions conviviaux qui permettent de réaliser l'opération facilement. Le système est équipé d'un mode de fonctionnement manuel ainsi que d'un mode de fonctionnement automatique, permettant d'adapter le fonctionnement aux besoins des utilisateurs. De plus, le soutien de différents langages de programmation permet aux utilisateurs de développer des programmes d'inspection personnalisés pour des besoins spécifiques. En résumé, PSX307-M Mask & Wafer Inspection Unit est une machine perfectionnée et performante pour effectuer l'inspection des défauts des masques à semi-conducteurs et des plaquettes de grande taille. Utilisant une technologie de détection optique avancée et tridimensionnelle, l'outil est capable de détecter les défauts mineurs avec une grande précision, tandis que ses fonctions d'auto-alignement et d'analyse d'image intégrées contribuent à améliorer encore l'efficacité opérationnelle. Avec ses différents menus et fonctions conviviaux, MATSUSHITA PSX307-M est un excellent choix pour l'inspection automatisée des masques et des plaquettes.