Occasion MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR #9180196 à vendre en France

ID: 9180196
SWIR Inspection system, 12" Defect detection Single cassette 8” Wafer loader / Unloader with (4) axis robot Pre-aligner Wafer cassette mapping Under / Over OCR cameras Objectives: 5x, 10x, 20x, 50x camera sensor In-GaAs: 900nm - 1700nm sensitivity inspection Analysis: Bonded wafer alignment Die alignment (flip-chip or hybridization) Subsurface, defect visualization, detection Characterization: MEMS Device Inspection and metrology: 3D Stacking Process development and control: Integrated CD / Dimensional metrology Application-specific customization software: Semi standard S2/S8.
MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui fournit une inspection automatisée des plaquettes et des masques. Il est doté d'une conception de système de pointe, optimisée pour les applications de production. Le cœur de DDR-300 NIR est une caméra haute vitesse avancée qui enregistre la lumière infrarouge passant à travers une plaquette ou un masque. Cette unité d'imagerie avancée analyse rapidement le motif sur le dispositif puis le compare avec des motifs connus, pour détecter des anomalies dans la structure ou les caractéristiques du motif. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR peut inspecter les plaquettes et les masques. Avec l'inspection de la plaquette, la machine effectue un contrôle sans contact sur l'uniformité de surface et la structure de la plaquette. Lors de l'inspection par masque, l'outil utilise ses récepteurs infrarouges pour capturer et comparer le motif, couche par couche, au motif original conçu, en identifiant efficacement les écarts. DDR-300 NIR dispose de plusieurs fonctionnalités supplémentaires pour optimiser la détection des défauts. L'actif utilise des algorithmes avancés et des techniques de traitement d'image pour détecter avec précision et distinguer les défauts presque imperceptibles, réduire le temps d'inspection et fournir des résultats avec plus de précision. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR prend en charge une variété de formats de photos de plaquettes et peut détecter et ajuster automatiquement les paramètres requis. Le processus d'acquisition d'images est rapide et efficace, de sorte que les cycles de production sont rapides et fiables. L'interface conviviale sur DDR-300 NIR comprend une navigation tactile intuitive et personnalise les commandes qui peuvent être configurées rapidement. Le modèle enregistre également automatiquement des données testées et des images mesurées sur sa carte mémoire SD, ce qui permet de récupérer rapidement des données pour examen et analyse. L'équipement dispose également d'une carte d'E/S et d'un écran tactile LCD qui permet une communication rapide entre le système et le client, pour des mises à jour rapides sur place. MCBAIN SYSTEMS DDR-300 NIR Masque et Wafer Inspection unité est conçu pour un contrôle rapide, fiable et rentable des processus. La machine répond à toutes les normes de sécurité et de qualité de l'industrie, fournissant une solution efficace pour le contrôle de la qualité de la chaîne de production. Grâce à ses capacités d'imagerie avancées, à sa détection précise des défauts, à son interface utilisateur intuitive et à son large éventail de formats de photos de plaquettes pris en charge, DDR-300 NIR est un outil essentiel pour toute ligne de production.
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