Occasion MIT Linearflex 822 #9234972 à vendre en France

MIT Linearflex 822 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour fournir une évaluation automatisée et non destructive des circuits intégrés (IC). Le système se compose d'un microscope électronique combiné optique et à balayage (SEM), ainsi que d'outils logiciels avancés qui automatisent le processus d'inspection. L'unité optique comprend un objectif d'illumination du fond, fournissant des prises d'image crues et en temps réel de la surface de la plaquette. Avec la microscopie électronique à balayage (SEM), les caractéristiques des sous-microns peuvent être imagées à des niveaux de détail très élevés. Les images haute résolution peuvent être capturées dans plusieurs canaux sous forme d'imagerie par réseaux échelonnés, ce qui permet d'inspecter les caractéristiques de surface et de sous-surface du CI. Linearflex 822 comprend également de puissantes capacités d'analyse d'image qui permettent l'inspection automatisée des plaquettes à toutes les étapes de la conception et du processus de fabrication d'IC. Les algorithmes avancés de traitement d'images sont capables d'identifier les défauts aux niveaux macroscopique et microscopique, y compris les grappes de particules et de particules, les nodules, les fosses, les rayures et autres contaminations. En outre, la machine comprend une suite d'outils d'inspection de plaquettes pour la détection complète d'une gamme complète d'erreurs d'impression lithographique. La suite est compatible avec une gamme de procédés de lithographie standard de l'industrie, y compris le step-and-scan (i-line stepper ou DUV scanner), le double-tissage et le traitement de photomasques. Le logiciel est également capable de détecter des objets étrangers et des wafer peeling ou warping. En combinaison avec les systèmes de capture d'image, le logiciel d'inspection automatisé fournit un contrôle et une mesure complets des mises en page et des processus d'IC. Il peut être utilisé pour détecter les défauts de processus, localiser les sources de contamination et aider à optimiser la performance du processus. Le logiciel d'outil intégré est conçu pour minimiser les temps d'arrêt et optimiser les performances. Le logiciel est très extensible et peut être programmé pour permettre les processus de test et de réparation des plaquettes. Il est capable de traiter de grands ensembles de données avec un flux de données à grande vitesse à partir du matériel. MIT Linearflex 822 est un actif avancé d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour rationaliser la production d'IC et augmenter le débit. Il combine l'imagerie haute résolution avec des outils logiciels sophistiqués pour fournir une inspection fiable et automatisée des IC aux niveaux macroscopique et microscopique. Avec son design robuste et ses outils complets, le modèle est bien adapté aux applications de conception et de fabrication IC.