Occasion NANOMETRICS 210 XP #9185099 à vendre en France

NANOMETRICS 210 XP est un équipement de haute performance, masque automatisé et d'inspection des plaquettes qui permet à la fois l'examen manuel et automatisé des défauts et la classification rapide des défauts. Il offre une solution efficace et efficiente pour aider à identifier les défauts potentiels de limitation de rendement causés par les variations de processus. NANOMETRICS 210XP combine la reconnaissance automatisée des défauts avec l'analyse d'image pour identifier, analyser et classer rapidement les défauts qui peuvent réduire considérablement le temps de cycle pour le masque et les rendements des plaquettes. Son logiciel exclusif de reconnaissance d'image, son système d'imagerie haute résolution et ses règles d'inspection complètes fournissent des données critiques pour l'identification rapide et précise des défauts. 210 XP combine une puissante gamme d'outils logiciels incluant le suivi des défauts, l'analyse d'images et le diagnostic. Son processus automatisé de reconnaissance des défauts est conçu pour identifier rapidement les défauts potentiels limitant le rendement et les classer en fonction du type, de la taille et de la forme. Le logiciel fournit également aux opérateurs des informations détaillées sur la disposition du masque et de la plaquette et fournit un résumé complet de tous les défauts dans le masque ou la plaquette. La machine optique de l'unité dispose également d'un détecteur de profil confocal Abbe haute performance qui offre aux utilisateurs une résolution au niveau submicronique, ainsi qu'un étage de compensation des plaquettes et un champ de vision qui permet aux utilisateurs de visualiser l'ensemble de la plaquette simultanément. Il offre aux utilisateurs des modes d'imagerie flexibles qui permettent l'inspection de diverses structures telles que la matrice, la lisière, les bosses et les trous d'épingle. 210XP offre aux utilisateurs un contrôle et une flexibilité exceptionnels sur leur processus d'inspection. Ses paramètres de révision d'image réglables permettent aux opérateurs de facilement adapter l'outil à leurs besoins spécifiques, et l'interface conviviale de l'actif simplifie le processus de révision des données. NANOMETRICS 210 XP est idéal pour les fabricants de semi-conducteurs et les installations de recherche-développement nécessitant la détection et la classification automatisées des défauts. Il offre une solution d'inspection et de gestion des défauts fiable et efficace pour les industries qui recherchent des taux d'inspection et de rendement plus élevés.