Occasion NANOMETRICS 8000X #9294202 à vendre en France

NANOMETRICS 8000X
ID: 9294202
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1998
Thin film measurement system, 8" 1998 vintage.
NANOMETRICS 8000X Mask and Wafer Inspection Equipment est une solution de métrologie automatisée haute performance conçue pour surveiller la qualité des masques et des plaquettes pendant le processus de fabrication. Il fournit des mesures précises des caractéristiques critiques avec une précision allant jusqu'à 20 nm. Le système NANOMETRICS 8000 X dispose d'une conception modulaire qui prend en charge les configurations standard ainsi que les configurations personnalisées. Le coeur de 8000X est l'étage optique de grand format qui est intégré aux étages motorisés X, Y et thêta pour permettre un alignement dynamique pour des mesures à plusieurs étapes ou pour suivre des déversements multiples de filière. La scène dispose également d'un blindage intégré pour réduire le bruit de fond et d'un chargeur double cassette pour augmenter la productivité. L'unité 8000 X est contrôlée à l'aide du logiciel EXE™ qui fournit une interface puissante et conviviale pour la configuration, le contrôle et l'analyse des données. Le logiciel EXE a une variété de fonctionnalités avancées telles que des stratégies de numérisation automatisées, plusieurs canaux de métrologie, et le transfert de données à grande vitesse. La machine est capable d'effectuer de multiples mesures de caractéristiques critiques telles que des réticules, des vias, des contacts, des surfaces critiques et des logos. Il fournit des mesures haute densité et peut détecter et classer les défauts dans les petites tailles de caractéristiques, y compris les lignes, les espaces, et via des fonctionnalités. L'outil NANOMETRICS 8000X est également conçu pour soutenir l'automatisation. Il peut être connecté à des systèmes de microscope électronique, de testeur et de scanner/sonde pour des solutions de métrologie plus automatisées. NANOMETRICS 8000 X Masque et Wafer Inspection Asset est une solution idéale pour le contrôle de la qualité et la surveillance des processus dans la fabrication de semi-conducteurs. Ses fonctionnalités avancées, ses mesures précises et ses capacités automatisées en font l'une des solutions les plus efficaces pour surveiller la qualité des masques et des plaquettes.
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