Occasion NANOMETRICS AFT 210 #9083845 à vendre en France

NANOMETRICS AFT 210 est un équipement avancé d'inspection des plaquettes et masques, conçu pour détecter et mesurer les défauts pendant le processus de fabrication. Le système dispose d'une grande surface de travail et d'un ordinateur de contrôle local, ce qui en fait un choix idéal pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. L'AFT 210 est équipé d'un outil multipoint avancé pouvant mesurer jusqu'à 8 niveaux de masque à la fois. Chaque niveau de masque peut être ajusté pour différents paramètres d'inspection. Cela permet à l'unité de détecter une grande variété de défauts allant de petits contaminants à de grandes irrégularités de surface. NANOMETRICS AFT 210 utilise également une machine optique de niveau pour réduire la quantité de faux positifs. Cet outil est capable d'analyser les images du masque ainsi que les plaquettes d'échantillons. En outre, l'actif fournit des données en temps réel sur l'état d'avancement du processus d'inspection, ce qui facilite le contrôle des performances par l'exploitant. Pour maximiser la quantité de données pouvant être collectées, le modèle d'inspection de l'AFT 210 comprend un équipement d'imagerie 3D automatisé. Ce système permet au processus d'inspection d'être plus précis et de produire de meilleurs résultats. De plus, l'unité d'imagerie 3D permet à la machine de détecter les défauts de manière extrêmement détaillée, permettant à l'opérateur de mieux identifier et mesurer les défauts. NANOMETRICS AFT 210 dispose également d'un outil automatisé d'examen des défauts. Cet atout permet à l'opérateur de rechercher et de revoir rapidement les images défectueuses de l'inspection du masque. Le modèle d'examen est également capable de comparer les résultats de plusieurs plaquettes, ce qui facilite la détection rapide des incohérences de processus qui peuvent survenir. Au total, l'AFT 210 est un équipement d'inspection de plaquettes et de masques extrêmement précis et robuste. Il est capable d'effectuer une inspection très détaillée des masques et des plaquettes, détectant même les plus petits défauts. Le système est également capable de suivre le processus d'inspection en temps réel et d'effectuer un examen automatisé des défauts. Cette combinaison fait de NANOMETRICS AFT 210 un outil idéal pour assurer le contrôle de qualité lors de tout processus de fabrication de semi-conducteurs.