Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT CALIPER Q300 #9298694 à vendre en France
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ID: 9298694
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2002
Overlay measurement system, 12"
2002 vintage.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CALIPER Q300 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour les tâches d'inspection des plaquettes et des sous-microns. Le Q300 dispose d'une technologie optique de pointe, ainsi que des logiciels et de l'électronique qui créent une plate-forme optimisée pour l'inspection des pièces semi-conductrices pendant le processus de fabrication. Le système q300 utilise des capacités optiques haut de gamme pour inspecter divers types de plaquettes et de masques, qui peuvent aller de couches de masque à puce complet et couches de demi-masque à de nombreux autres types et tailles différents entre les deux. L'unité d'optique embarquée comprend des diodes laser puissantes et des zooms optiques pour l'inspection de surface, ainsi qu'une microscopie sub-micron pour l'inspection des différentes caractéristiques de surface des masques et des plaquettes. La machine offre également des fonctionnalités automatisées pour une analyse complète des puces et un temps d'inspection réduit. Les capacités de métrologie multicouche sont également intégrées à l'outil, offrant la capacité de mesurer la hauteur des couches et la rugosité de surface sur plusieurs niveaux avec une seule mesure. En utilisant des outils avancés tels que les microscopes à balayage 3D, l'actif peut analyser le fonctionnement des masques de lithographie dans une variété de scénarios vrais à vie. Les contrôles automatisés du Q300 permettent d'augmenter le débit d'inspection des plaquettes et des masques. Les paramètres de balayage à grande vitesse peuvent être ajustés aux paramètres définis par l'utilisateur, tandis que le contrôle des étages motorisés permet un alignement et un échantillonnage précis des pièces inspectées. De plus, une interface conviviale permet une programmation facile du modèle. ACCENT CALIPER Q300 offre des capacités d'inspection fiables, efficaces et précises pour la fabrication de semi-conducteurs et de puces. Son optique avancée et ses contrôles d'automatisation contribuent à garantir des résultats précis et de qualité, tandis que son interface conviviale simplifie la programmation et offre un meilleur contrôle sur le processus d'inspection. Utilisant des diodes laser dédiées et puissantes et des zooms optiques, l'équipement est capable d'inspecter les surfaces des plaquettes et des masques, ainsi que de mesurer la métrologie multicouches avec une seule mesure. Avec toutes ces caractéristiques combinées, le Q300 est la solution idéale pour le masque de qualité et l'inspection des plaquettes.
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