Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT PD7440/00 #293639724 à vendre en France

ACCENT PD7440/00 Masque & Wafer Inspection Equipment est une plate-forme automatisée rentable pour l'inspection microscopique et l'analyse des défauts des plaquettes et masques substrés utilisés pour la fabrication des dispositifs semi-conducteurs critiques. Ce système d'inspection avancé dispose d'une unité d'imagerie numérique de haute qualité, permettant une inspection et une capture d'images fiables et précises. La machine est équipée d'un appareil photo numérique à résolution de 5 ou 10 microns et d'un ensemble de focales d'objectif interchangeables. Les lentilles facilitent l'inspection de grandes tailles de puces allant de petites (moins de 200um), moyennes (201-800um) et grandes (au-dessus de 800um). De plus, l'outil d'inspection comprend un microscope optique 7x, 5 options de grossissement de 1X à 5X, et un actif d'alignement laser optique de profil bas, fournissant un positionnement précis pour l'analyse. Un moniteur LCD couleur de 4 pouces et une interface de contrôle PC intuitive et conviviale basée sur Windows permettent une visualisation, une capture et une analyse des images. En outre, BIO-RAD PD7440/00 Mask & Wafer Inspection Model est couplé à une multitude de logiciels et composants matériels spécialisés, ce qui le rend idéal pour les applications semi-conductrices. Les fonctions logicielles comprennent la simulation de lithographie par faisceau d'électrons (EBL), la programmation CAO, le concepteur d'affichage et la cartographie flexible. Cette collection complète de fonctionnalités permet aux utilisateurs de programmer, d'analyser et de concevoir facilement des modèles spécifiques aux cibles à imager. L'équipement dispose également d'un système automatique de comparaison d'alarme de plaquettes, qui compare les images en temps réel de la plaquette inspectée aux images « dorées » stockées d'une plaquette idéale pour détecter rapidement les défauts. Par conséquent, les défauts peuvent être identifiés plus facilement et rapidement, ce qui réduit le temps d'inspection et évite d'éventuels produits défectueux. En termes de performance, NANOMETRICS PD7440/00 est capable d'inspecter les plaquettes sous-traitées à des vitesses allant jusqu'à 40 000 tr/min, ce qui lui permet de localiser et d'identifier rapidement les zones défectueuses. L'unité est équipée de capacités de transfert de données à grande vitesse, ce qui la rend apte à des performances dynamiques sur plusieurs sites. Dans l'ensemble, NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT PD7440/00 Masque et Wafer Inspection Machine est une plate-forme d'automatisation fiable offrant aux utilisateurs des capacités d'inspection polyvalentes et rentables pour les wafers et masques utilisés pour les processus de fabrication de dispositifs semi-conducteurs critiques. La combinaison de capacités d'imagerie avancées avec des fonctionnalités logicielles et matérielles polyvalentes fournit la plate-forme idéale pour une large gamme d'applications de semi-conducteurs.