Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q200i #9281248 à vendre en France

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q200i est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de pointe. Il est capable de détecter des défauts critiques sur une variété de matériaux semi-conducteurs, y compris le saphir, le silicium, le diamant et le germanium. Le système utilise une optique avancée, y compris un microscope optique à fort grossissement, pour agrandir les images jusqu'à 200x pour une inspection extrêmement détaillée des surfaces de masque et de plaquettes. L'unité utilise également un grand détecteur d'imagerie sensible pour fournir une sensibilité plus élevée et des vitesses de balayage plus rapides. Ces composants avancés sont contrôlés par une interface utilisateur intuitive qui facilite un fonctionnement rapide et précis. La machine est équipée d'un logiciel puissant qui peut analyser les images pour détecter les défauts critiques. L'outil offre également la possibilité de stocker des images pour une analyse plus approfondie, si nécessaire. En outre, l'actif peut être surveillé à distance afin que les utilisateurs puissent examiner les images et les résultats de n'importe quel endroit. Le masque ACCENT Q200i et le modèle d'inspection des plaquettes ont été conçus pour des environnements de fabrication de haute précision et à haut rendement. Il offre une large gamme de capacités, y compris l'identification de défauts multi paramètres et l'inspection multi substrat. De plus, l'équipement peut inspecter des plaquettes de différentes tailles, et peut enregistrer et examiner les détections de pontage de plaquettes minces. BIO-RAD Q200i est conçu pour fournir un niveau de défaut allant jusqu'à 25 défauts par million (DPM) pour les masques à motifs, et jusqu'à 10 DPM pour les plaquettes. Ses performances et sa précision exceptionnelles contribuent à accélérer la production de dispositifs semi-conducteurs de haute qualité, ainsi qu'à réduire les coûts et à améliorer les rendements par rapport aux méthodes traditionnelles. En plus des performances exceptionnelles du système, Q200i fournit également un certain nombre de fonctionnalités qui le rendent plus facile à utiliser. Il comprend un tableau de bord intégré qui permet un accès instantané aux données d'analyse d'image, une unité de calibration automatique et un moteur de recherche puissant et intuitif. Il dispose également d'une caméra haute résolution pour une meilleure précision d'analyse d'image et une résolution supérieure. Dans l'ensemble, NANOMETRICS Q200i masque et wafer inspection machine fournit l'une des solutions les plus avancées et avancées pour la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. L'outil offre une méthode efficace et puissante pour détecter et corriger les défauts critiques, ce qui permet d'améliorer les rendements et de réduire les coûts globaux de production des appareils.