Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q200i #9389804 à vendre en France

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q200i est un puissant équipement d'inspection des masques et des plaquettes qui est idéal pour l'inspection et la mesure des circuits intégrés (IC) sur les plaquettes semi-conductrices. Le système est conçu pour détecter les défauts électriques, optiques et mécaniques sur les photomasques, réticules, plaquettes et autres produits utilisés dans la fabrication d'IC. ACCENT Q200i est programmé pour être une unité à haut débit capable de fournir une excellente qualité d'image et une analyse précise sans intervention de l'utilisateur nécessaire, tout en fournissant d'excellents débits. Il présente un 5μm CCD (la Charge l'Appareil Double) le détecteur qui a été optimisé pour la haute résolution reflétante de dessins plus petits que 5μm et un million d'éléments de dessin. La machine utilise des fonctionnalités brevetées telles que l'imagerie pas à pas haute résolution, et plusieurs modes de balayage, ainsi que l'imagerie microscopique avec une profondeur de mise au point de 650 nm. Il dispose également d'une analyse d'image haute définition pour la détection haute résolution et l'imagerie par défaut chaud et froid. BIO-RAD Q200i est conçu pour traiter une variété d'applications, telles que l'imagerie d'ombre pour détecter les défauts de surface, l'imagerie microscopique pour détecter les défauts de structure et de particules, et le piquage d'image pour contrôler les zones difficiles d'accès. Il est adapté aux nœuds de processus 1X et 2X et dispose d'un taux d'imagerie rapide de 50 msec, de sorte qu'une production de volume élevé est possible. L'outil est équipé d'une interface utilisateur complète qui simplifie le fonctionnement de l'actif et permet une intégration rapide dans l'environnement de production des clients. Il est livré avec des outils de maintenance et de diagnostic de qualité en ligne et des capacités de rapport, de sorte que les utilisateurs peuvent accéder à l'aide au besoin. NANOMETRICS Q200i est un modèle avancé d'inspection des masques et des plaquettes qui offre une résolution supérieure, des résultats précis, un débit rapide et une facilité de fonctionnement. C'est un outil idéal pour une variété de procédés de fabrication de semi-conducteurs et répond aux exigences de ceux dans les domaines de la production, de la recherche ou de l'assurance de la qualité.