Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Q7 / Q8 #122833 à vendre en France

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8 Masque & Wafer Inspection Equipment est un système complet d'inspection des masques et des plaquettes qui combine une imagerie de haute précision avec une analyse et une documentation sophistiquées des défauts basés sur le logiciel. Conçu pour faciliter l'inspection rapide et efficace des photomasques utilisés dans le processus de fabrication des semi-conducteurs, ACCENT Q7/Q8 offre les meilleures performances et fiabilité. L'unité dispose d'un microscope d'inspection numérique, qui offre des capacités d'imagerie et d'éclairage supérieures avec des grossissements réglables et des capacités de focalisation allant jusqu'à 2000X. Cette technologie d'imagerie de pointe est associée à une machine de détection de défauts définie par un logiciel de pointe qui peut reconnaître un large éventail de défauts IC, y compris des défauts de particules, des défauts de filière et des défauts de ligne. Avec un ensemble d'unités de traitement dur en temps réel et une mémoire dédiée, BIO-RAD Q7/Q8 offre une vitesse et une précision supérieures pour les applications d'imagerie par faisceau de lumière et d'électrons. NANOMETRICS Q7/Q8 fournit une gamme de fonctions d'inspection automatisées, y compris la couture automatique des plaquettes pour une couverture complète, une bibliothèque complète d'inspection des défauts pour la reconnaissance précise des défauts, et des outils avancés de visualisation et d'édition des masques pour un alignement très précis. L'outil prend également en charge une série d'outils de détection et d'analyse automatisée des défauts de l'industrie, y compris la catégorisation des défauts de particules, la vérification des défauts du module, l'analyse paramétrique des défauts et les options d'inspection avancée des panneaux plats. Q7/Q8 s'intègre parfaitement avec ACCENT Aleris Semiconductor Quality Control Asset, permettant une automatisation complète du processus d'examen des défauts. Aleris Semiconductor fournit un cadre d'examen des défauts entièrement intégré qui permet d'examiner, d'analyser et de signaler rapidement les défauts critiques constatés dans les plaquettes par le modèle NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Q7/Q8. En s'intégrant à la plateforme Aleris, ACCENT Q7/Q8 garantit que toutes les données de masque et de plaquette inspectées sont facilement disponibles pour un examen plus approfondi. Dans l'ensemble, BIO-RAD Q7/Q8 Mask & Wafer Inspection Equipment offre des performances et une fiabilité supérieures pour l'inspection des masques et des plaquettes dans l'industrie des semi-conducteurs. Ses capacités d'imagerie et de détection avancées, associées à une intégration facile dans le système de contrôle de la qualité des semi-conducteurs d'Aleris, apportent une confiance accrue dans la qualité des masques et garantissent que les défauts critiques sont rapidement localisés et examinés.