Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT Quaestor Q7 #9112912 à vendre en France
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ID: 9112912
Taille de la plaquette: 8"
Wafer inspection system, 8"
CMC Servo Motor: MT2115-014DF
KLK A-10
Xenon Lamp: X58000000, 110V, 50Hz
Control Station: Q7, 110VAC, 50/60Hz.
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT Quaestor Q7 est un équipement d'inspection des masques et plaquettes de pointe conçu pour le contrôle rentable des processus, la gestion des rendements et la détection des défauts dans la fabrication des masques et plaquettes semi-conducteurs. Le système utilise des techniques optiques avancées pour détecter et analyser les défauts à la surface des masques et des plaquettes, ce qui permet aux ingénieurs de procédé d'identifier et de corriger rapidement les problèmes qui pourraient entraver la production et le rendement. L'unité Q7 utilise une machine optique monolithique composée de quatre sous-systèmes distincts : l'éclairage, l'imagerie, l'optique et la détection. Cet outil est conçu pour obtenir une résolution optique au-delà des Exabits, offrant un avantage distinct par rapport aux systèmes d'imagerie traditionnels. L'actif d'éclairage à base de fibres optiques permet une uniformité de la lumière sur le balayage complet du masque ou de la plaquette. Le sous-système d'imagerie fournit des capacités d'imagerie haute définition sans le flou ou la distorsion des systèmes optiques traditionnels, capturant avec précision même les plus petits défauts. Le modèle optique Q7 fonctionne dans une géométrie linéaire, ou divergente, offrant une plus grande précision et un champ de vision plus grand pour la détection et la mesure précises des défauts. Enfin, le sous-système de détection utilise un algorithme de détection d'architecture Mark to scape pour détecter rapidement des anomalies et des défauts en surface. Les caractéristiques du Q7 vont au-delà de la simple détection de défauts. Pour faciliter les tests et l'analyse des données, l'équipement est livré avec une interface utilisateur graphique (UI) conviviale qui permet aux utilisateurs de contrôler et de configurer les paramètres du système, et fournit une suite complète d'outils de mesure et d'analyse qui peuvent être utilisés pour détecter les imperfections minuscules et l'analyse des tendances. Le Q7 est également équipé d'une unité de mesure automatisée (AMS), permettant aux ingénieurs de processus de collecter de grands ensembles de données avec une grande précision. Ces données peuvent être utilisées pour évaluer l'efficacité des procédés de fabrication, suivre les wafers et identifier les tendances des données de production. Ces données peuvent être téléchargées via USB ou Ethernet, ce qui permet de stocker et d'analyser facilement de grandes quantités de données. Le Q7 est de faible maintenance et très habile à fournir de grandes quantités de données dans une petite empreinte. Ses capacités optiques avancées conviennent à la fois pour des solutions matures et des processus de développement pour la production de nœuds sous-4nm, assurant un temps d'arrêt minimal et des rendements accrus.
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