Occasion NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT RPM 2000 #293824560 à vendre en France

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT RPM 2000 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de pointe conçu spécialement pour l'industrie des semi-conducteurs en évolution rapide. Ce système innovant combine imagerie de surface haute résolution avec détection avancée de micro-défauts pour le plus haut niveau de précision et de précision dans l'analyse du rendement des semi-conducteurs. ACCENT RPM 2000 est une unité d'inspection sans contact conçue pour inspecter des centaines de milliers de dés soudés ou nus en même temps. La machine utilise une caméra CCD à balayage optique, avec grossissement optique jusqu'à 2000X, pour capturer l'image de chaque filière en résolution brute. Cette résolution d'imagerie brute permet de vérifier avec précision les problèmes d'alignement mécanique, les défauts de taille des caractéristiques et les défauts de conception ou de fabrication. Contrairement aux systèmes traditionnels d'inspection des masques et des plaquettes, BIO-RAD RPM 2000 peut identifier les défauts et les non-conformités jusqu'à un micron et peut inspecter plusieurs décès simultanément. L'outil utilise un algorithme automatisé de reconnaissance d'image pour détecter divers défauts avec 99,5 % de précision et de répétabilité. En outre, l'actif dispose d'une fonction avancée de « segmentation » qui permet aux utilisateurs d'identifier les décès individuels rapidement et avec précision. RPM 2000 est conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs exigeante. La conception modulaire permet aux utilisateurs de personnaliser facilement le modèle pour des applications spécifiques. En outre, l'équipement permet des analyses rapides et rentables des plaquettes avec un simple clic de la souris ou le toucher d'un bouton. NANOMETRICS RPM 2000 est un système d'inspection des masques et des plaquettes leader dans l'industrie qui offre des performances supérieures et une précision maximale. La technologie d'imagerie haute résolution utilisée par cette unité assure des mesures précises, des résultats fiables et des résultats reproductibles. Cette machine avancée permet aux ingénieurs de détecter et d'identifier les défauts ou non-conformités précédemment imprévus dans l'analyse du rendement des semi-conducteurs, permettant aux utilisateurs d'améliorer les processus et de maximiser l'efficacité de la production.