Occasion NANOMETRICS M-215 #9226306 à vendre en France

NANOMETRICS M-215 est un équipement automatisé d'inspection masque/wafer qui fournit une solution d'inspection économique et fiable pour toute surface bidimensionnelle non transparente. Le système offre un ensemble complet de paramètres d'inspection et de détection des défauts, y compris des caractéristiques telles que : Inspection multi-tuiles de la même zone pour une meilleure fiabilité. Balayage à haute vitesse jusqu'à 0,5 Gigapixel/seconde. Détection complète des défauts couvrant les défauts de 0.1um à 50um dans la taille. Routines d'étalonnage automatisées pour garantir une grande fiabilité des résultats. Environnement stable pour la cohérence de la température et une meilleure stabilité. Jeu de fonctionnalités flexible comprenant détection automatisée des défauts, montage automatisé, classification automatisée des défauts, enregistrement 3D et reconnaissance avancée des motifs. Paramètres d'analyse complets avec une variété d'options d'affichage. Plateforme indépendante d'application avec intégration facile d'applications personnalisées. M-215 unité est conçue pour être utilisée dans les industries des semi-conducteurs et des MEMS pour l'inspection des plaquettes à motifs et des masques jusqu'à 12 pouces de taille. L'unité d'inspection masque/plaquette se compose d'une tête de balayage en fente, d'une plaque d'imagerie et d'un module d'application de travail optionnel, d'une unité de contrôle et d'un ordinateur portable d'interfaçage. La tête de balayage à fente assure une acquisition d'image à haute vitesse jusqu'à 0,5 Gigapixel par seconde, tandis que la plaque d'image assure une intensité d'image uniforme. Le module applicatif de tâche optionnel permet à l'utilisateur de définir une variété de paramètres pour l'algorithme d'inspection. Des routines d'étalonnage automatisées sont également disponibles pour garantir la cohérence et la fiabilité des résultats des multiples inspections. L'unité de contrôle fournit une interface entre l'ordinateur portable de l'utilisateur et la machine d'inspection masque/plaquette. De plus, l'ordinateur portable d'interface offre une variété de fonctionnalités pour l'analyse et l'examen des données saisies par l'outil. En conclusion, NANOMETRICS M-215 est un outil économique et fiable d'inspection des masques et des plaquettes offrant un ensemble complet de paramètres d'inspection et de détection des défauts. Ses inspections multi-tuiles d'une même zone, sa vitesse de balayage rapide, ses routines d'étalonnage automatisées et sa flexibilité permettent une détection rapide et précise des défauts de toute surface bidimensionnelle non transparente. C'est un choix idéal pour l'industrie des semi-conducteurs et des MEMS.