Occasion NANOMETRICS M6100 #9244091 à vendre en France

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NANOMETRICS M6100
Vendu
ID: 9244091
Taille de la plaquette: 8"
Thickness measurement system, 8".
NANOMETRICS M6100 Masque et Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection haute capacité et haute précision pour dispositifs semi-conducteurs qui offre des performances inégalées. Il est doté de la dernière optique, de l'imagerie nanométrique et d'un logiciel de pointe pour l'inspection efficace et précise de divers types d'IC. NANOMETRICS M 6100 offre une résolution de défaut supérieure et gagne rapidement la faveur des principaux fabricants de semi-conducteurs. M6100 est conçu pour identifier précisément les défauts sur les masques de la gamme des nanomètres, même sur les plaquettes densément emballées. Il utilise une combinaison d'optique avancée et d'algorithmes pour détecter et classer les défauts, et il offre un haut degré de précision et de répétabilité. M 6100 détecte des défauts dans plusieurs couches d'un dispositif, permettant une détection et une analyse précises des défauts. De plus, le logiciel NANOMETRICS M6100 dispose d'une reconnaissance automatique des motifs, ce qui permet d'identifier et de catégoriser les défauts à partir de la grande quantité de données recueillies au cours du processus d'inspection. NANOMETRICS M 6100 dispose d'une visualisation 3D haute résolution, qui aide à identifier les défauts qui peuvent ne pas être visibles à l'œil nu. Il offre également des capacités de métrologie avancées, comme une unité de métrologie de haute précision qui peut mesurer les paramètres critiques des appareils. La machine peut également utiliser des outils d'assistance, tels que l'imagerie optique à fort grossissement, pour identifier et distinguer de petites caractéristiques. Pour le traitement et l'analyse des données, M6100 est équipé de logiciels puissants, y compris la classification des défauts, le tri automatisé et les rapports, et la plate-forme de comparaison par opposition complète. Ce logiciel fournit une gamme complète d'outils pour identifier et analyser rapidement et avec précision les défauts. De plus, les fonctions d'enregistrement des données de l'outil facilitent le stockage et l'examen des informations sur les tests et les performances des produits, contribuant ainsi au contrôle de la qualité. Le M 6100 est fabriqué avec un cadre durable en métal et en verre, et il est conçu pour répondre aux normes strictes de l'industrie des semi-conducteurs. Il offre plusieurs configurations pour s'adapter à n'importe quelle ligne de production de semi-conducteurs, et sa conception simple permet une configuration et une maintenance faciles. NANOMETRICS M6100 est très fiable et efficace, et ses performances exceptionnelles en font un excellent choix pour toute application semi-conductrice.
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